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晶體管參數(shù)測(cè)試儀

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晶體管參數(shù)測(cè)試儀 核心參數(shù)
主極電壓 0-2KV 主極電流 0-200A
柵極電壓 40V

產(chǎn)品特點(diǎn)

SC2020晶體管參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)是我司自主研發(fā)的半導(dǎo)體分立器件電學(xué)參數(shù)測(cè)試的專用設(shè)備,主要用于半導(dǎo)體器件生產(chǎn)廠家進(jìn)行圓片中測(cè)或封裝成測(cè),各類整機(jī)廠家、科研院所的質(zhì)量檢測(cè)部門IQC進(jìn)行來料檢驗(yàn),研發(fā)部門進(jìn)

詳細(xì)介紹

 SC2020晶體管參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)

系統(tǒng)概述

SC2020晶體管參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)是我司自主研發(fā)的半導(dǎo)體分立器件電學(xué)參數(shù)測(cè)試的專用設(shè)備,主要用于半導(dǎo)體器件生產(chǎn)廠家進(jìn)行圓片中測(cè)或封裝成測(cè),各類整機(jī)廠家、科研院所的質(zhì)量檢測(cè)部門IQC進(jìn)行來料檢驗(yàn),研發(fā)部門進(jìn)行失效分析、選型配對(duì)、可靠性分析測(cè)試。

系統(tǒng)為桌面放置的臺(tái)式機(jī)結(jié)構(gòu),由測(cè)試主機(jī)和程控電腦兩大部分組成。外掛各類夾具和適配器,還能夠通過Prober接口、Handler接口可選(16Bin)連接分選機(jī)和機(jī)械手建立工作站,實(shí)現(xiàn)快速批量化測(cè)試。通過軟件設(shè)置可依照被測(cè)器件的參數(shù)等級(jí)進(jìn)行自動(dòng)分類存放。能夠極好的應(yīng)對(duì)“來料檢驗(yàn) ”“失效分析 ”“選型配對(duì) ”“量產(chǎn)測(cè)試 ”等不同應(yīng)用場(chǎng)景。

系統(tǒng)軟件基于Labview平臺(tái)開發(fā),填充式菜單界面,帶自動(dòng)糾錯(cuò)功能,可進(jìn)行器件參數(shù)的分檔、分類編程,并可實(shí)時(shí)顯示和記錄分檔、分類測(cè)試結(jié)果,測(cè)試結(jié)果和統(tǒng)計(jì)結(jié)果均可以EXCEL格式存貯于計(jì)算機(jī)中,根據(jù)需要可以打印輸出。

系統(tǒng)特點(diǎn)

◆  系統(tǒng)采用大規(guī)模32位ARM&MCU設(shè)計(jì)

◆  可測(cè)試7大類26分類的電子元器件

◆  程控高壓源1400V,提供2000V選配

◆  程控高流源40A,提供100A,200A,500A 選配

◆  控制極電壓可達(dá)40V,電流可達(dá)100mA

◆  系統(tǒng)數(shù)據(jù)采集采用16位ADC,1M/S采樣速率

◆  測(cè)試漏流最小分辨率達(dá)1.5pA

◆  四線開爾文連接保證加載測(cè)量的準(zhǔn)確

◆  Prober接口、Handler接口可選(16Bin)

◆  連接分選機(jī)最高測(cè)試量為每小時(shí)1萬個(gè)

◆  可為用戶提供豐富的測(cè)試適配器

◆  可選配測(cè)試結(jié)電容,諸如Ciss,Crss,Coss;

◆  系統(tǒng)符合《GJB128半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》等相應(yīng)的國軍標(biāo)及國際標(biāo)準(zhǔn)。

系統(tǒng)指標(biāo)

? 技術(shù)指標(biāo)

系統(tǒng)功能模塊

最大量程

最高分辨率

最高精度

低壓源(FV)

0~±40V

1uV

±0.1%

低流源(FI)

0~±100mA

1pA

±0.1%

高壓源(HVS)

0~±1400V/2000V

1mV

±0.5%

高流源(HIS)

0~±40A/100A/200A/500A

1uA

±1%

電壓測(cè)量(MV)

0~±1400V/2000V

1uV

±0.1%

電流測(cè)量(MI)

0~±40A/100A/200A/500A

1pA

±0.1%

 

? 測(cè)試能力

器件種類

測(cè)試參數(shù)

二極管類

(含TVS SBD ZENER整流橋)

BVR、IR、VF、VZ、RZ、ZZ、Vrrm、Irrm、Tr(選配)

三極管

BVCBO、BVCEO、BVCES、BVEBO、HFE、ICBO、ICEO、ICES、IEBO、VBESAT、VCESAT、VBE、選配(Ciss、Coss、Crss)

可控硅/雙向可控硅

IGT、VGT、VTM、VDRM、VRRM、IH、IL、IDRM、IRRM

場(chǎng)效應(yīng)管

VGSTH、IDSS、BVDSS、VDSON、IGSS、VSD、VGSON、IDON、RDSON、GFS、選配(Ciss、Coss、Crss)

IGBT

BVCES、BVGES、ICES、IGES、VCESAT、VGETH、VCEON、VGEON、VF、ICON、選配(Ciss、Coss、Crss)

壓敏電阻

VRRM、VDRM、IRRM、IDRM、Cka

光耦

VF、IR、BVCEO、VF、IR、BVCEO、BVECO、ICEO、CTR、VCESAT、

選配(Tr、Tf)

三/四端穩(wěn)壓器

Vout、Iin、IB、VD、Max_lo、Ro

繼電器

Vf、Ir、Vl、Il、Ift、Ron、選配(Ton、Toff)

功率驅(qū)動(dòng)器、

高邊功率開關(guān)

Vbb(AZ)、Von(CL)、Rson、Ibb(off)、Il(lim)、Coss、Fun_pin_volt、lvs(off)、lvs(on)、Rson_h、Rson_l、lin、Iinh、ls_Volt、Sr_volt

電壓保護(hù)器

Vrrm、Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、△Vr

基準(zhǔn)IC模塊

Vref、 △Vref、lref、Imin、loff、Zka、Vka

傳感監(jiān)測(cè)類

電流傳感器(ACS712XX系列、CSNR_15XX系列)(選配);

霍爾器件(MT44XX系列、A12XX系列)(選配);

電壓監(jiān)控器(選配);電壓復(fù)位IC(選配);

應(yīng)用領(lǐng)域及場(chǎng)景

應(yīng)用領(lǐng)域.png

>測(cè)試分析(功率器件研發(fā)設(shè)計(jì)階段的初始測(cè)試)

>失效分析(對(duì)失效器件進(jìn)行測(cè)試,查找失效機(jī)理。以便于對(duì)電子整機(jī)的整體設(shè)計(jì)和使用過程提出改善方案)

>選型配對(duì)(在器件焊接至電路板之前進(jìn)行全部測(cè)試,將測(cè)試數(shù)據(jù)比較一致的器件進(jìn)行分類配對(duì))

>來料檢驗(yàn)(研究所及電子廠的質(zhì)量部(IQC)對(duì)入廠器件進(jìn)行抽檢/全檢,把控器件的良品率)

>量產(chǎn)測(cè)試(可連接機(jī)械手、掃碼槍、分選機(jī)等各類輔助機(jī)械設(shè)備,實(shí)現(xiàn)規(guī)模化、自動(dòng)化測(cè)試)

 


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