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Contour 高精度三維形貌計(jì)量光學(xué)輪廓儀
- 品牌:布魯克
- 型號(hào): GT100,200,500
- 產(chǎn)地:美洲 美國(guó)
- 供應(yīng)商報(bào)價(jià):面議
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冠乾科技(上海)有限公司
更新時(shí)間:2025-05-06 08:35:11
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銷(xiāo)售范圍售全國(guó)
入駐年限第6年
營(yíng)業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類(lèi)產(chǎn)品輪廓儀/粗糙度儀(7件)
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產(chǎn)品特點(diǎn)
- Contour 高精度三維形貌計(jì)量光學(xué)輪廓儀WM融合了高級(jí)表征、可定制選項(xiàng)和易用性,可以提供快速、準(zhǔn)確和可重復(fù)的非接觸式三維表面計(jì)量方法。它的操作和分析軟件系統(tǒng)提供了更易于使用的界面和簡(jiǎn)潔的功能,可以訪問(wèn)多種預(yù)編程濾鏡和分析工具,用于精密加工的表面,薄膜,半導(dǎo)體,眼科,YL設(shè)備,MEMS和摩擦學(xué)等領(lǐng)域的測(cè)量分析,可用于表面粗糙度,RDLxian進(jìn)封裝工藝厚度等測(cè)試。
詳細(xì)介紹
Contour 高精度三維形貌計(jì)量光學(xué)輪廓儀
Contour 高精度三維形貌計(jì)量光學(xué)輪廓儀融合了高級(jí)表征、可定制選項(xiàng)和易用性,可以提供快速、準(zhǔn)確和可重復(fù)的非接觸式三維表面計(jì)量方法。
它的操作和分析軟件系統(tǒng)提供了更易于使用的界面和簡(jiǎn)潔的功能,可以訪問(wèn)多種預(yù)編程濾鏡和分析工具,用于精密加工的表面,薄膜,半導(dǎo)體,眼科,醫(yī)學(xué)設(shè)備,MEMS和摩擦學(xué)等領(lǐng)域的測(cè)量分析,可用于表面粗糙度,RDLxian進(jìn)封裝工藝厚度等測(cè)試。
Contour 高精度三維形貌計(jì)量光學(xué)輪廓儀滿足計(jì)量要求,具有很好的Z軸分辨率和準(zhǔn)確性,并在更小的占地面積內(nèi)提供了布魯克白光干涉儀(WLl)落地式型號(hào)所具備的業(yè)界認(rèn)可的優(yōu)點(diǎn)。它對(duì)反射率從0.05%到100 %的各種表面都非常易于測(cè)量。
Contour 高精度三維形貌計(jì)量光學(xué)輪廓儀擁有三款型號(hào),分別是GT100、GT200、GT500,它們的技術(shù)參數(shù)如下:
Contour 高精度三維形貌計(jì)量光學(xué)輪廓儀
型號(hào) GT100 GT200 GT500 圖片 樣品臺(tái)區(qū)別 手動(dòng)樣品臺(tái)
自動(dòng)樣品臺(tái)
高級(jí)自動(dòng)化樣品臺(tái)
技術(shù)參數(shù) 掃描量程:≤10mm
垂直分辨率:<0.01nm
水平分辨率:0.38μm min(Sparrow criterion),0.13μm(with AcuityXR)
臺(tái)階高度準(zhǔn)確性:<0.75%
臺(tái)階高度重復(fù)性:<0.1% 1 sigma repeatability
掃描速度:37μm/sec(with standard camera)
樣品傾角:≤40°(shiny surfaces),≤87°(rough surfaces)
樣品高度:≤100mm(4 in.)
技術(shù)資料
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