ContourX-200光學(xué)輪廓儀融合了高級表征、可定制選項和易用性，可提供YL的快速、準(zhǔn)確和可重復(fù)的非接觸式三維表面計量方法。該設(shè)備作為可用于計量的小尺寸系統(tǒng)，配置了大視場的5百萬像素攝像頭和新型電動XY載物臺，可提供高性能的的2D / 3D高分辨率測量功能。

ContourX-200還配有操作和分析軟件Vision64。VisionXpress?提供了更易于使用的界面和簡潔的功能，可訪問多種預(yù)編程濾鏡和分析工具，用于精密加工的表面，薄膜，半導(dǎo)體，眼科，MEMS和摩擦學(xué)等領(lǐng)域的測量分析。

優(yōu)質(zhì)的測量與分析功能

·易于使用的界面，可快速準(zhǔn)確地獲得結(jié)果

·自動化功能用于日常測量和分析

·最廣泛的濾鏡和分析工具選項，用于粗糙度和關(guān)鍵尺寸測量分析

·滿足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標(biāo)準(zhǔn)在內(nèi)的定制化分析報告

先進計量設(shè)備

·基于超過四十年的專有WLI創(chuàng)新，ContourX-200光學(xué)輪廓儀展現(xiàn)出定量計量所需的低噪聲、高速、高精度的準(zhǔn)確結(jié)果。

·通過使用多個鏡頭和集成的特征識別功能，設(shè)備可以在各種視野內(nèi)以亞納米垂直分辨率跟蹤特征，可用于各種不同行業(yè)中的質(zhì)量控制和過程監(jiān)控應(yīng)用。

·ContourX-200對于反射率從0.05％到100％的各種表面都非常易于測量。