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美國Delong 臺式透射電子顯微鏡LVEM5(Bench-top TEM)

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產品特點

美國Delong 臺式透射電子顯微鏡LVEM5(Bench-top TEM),小型臺式多用途電子顯微鏡,透射電鏡(TEM)、電子衍射(ED)、掃描電鏡(SEM)、掃描透射電鏡(STEM)四種成像模式,分辨率:1.5nm(TEM);10nm(SEM)。

詳細介紹

美國Delong臺式透射電子顯微鏡LVEM5(Bench-top TEM)


美國Delong 臺式透射電子顯微鏡LVEM5(Bench-top TEM)(圖1)

臺式設計:體積小巧,靈活性高,價格低

傳統(tǒng)透射電子顯微鏡體積龐大,對放置環(huán)境有著嚴格的要求,并且需要制冷機等外置設備。通常會占據(jù)整間實驗室。

美國Delong 臺式透射電子顯微鏡LVEM5(Bench-top TEM)(圖2)

詳細介紹

Delong Instruments 榮譽出品

? 世界的小型臺式透射電子顯微鏡(TEM)

? 世界的多用途臺式電子顯微鏡

? 透射電鏡(TEM)、電子衍射(ED)、掃描電鏡(SEM)、掃描透射電鏡(STEM)四種成像模式

? 分辨率:1.5nm(TEM);10nm(SEM)

? Schottky場發(fā)射電子槍:高亮度、高對比度

? 觀察生物樣品無需染色

? 體積僅為傳統(tǒng)透射電鏡1/10,操作維護簡單

LVEM5從根本上區(qū)別于傳統(tǒng)電鏡,尺寸較傳統(tǒng)電鏡縮小了90%,對放置環(huán)境無嚴格要求,無需任何外置冷卻設備,可以安裝用戶所需的任意實驗室或辦公室桌面,是目前性價比ZG的電子顯微鏡。

Schottky場發(fā)射電子槍:高亮度/高對比度

電子槍類型是決定電鏡性能的重要參數(shù)。LVEM5采用特殊設計的倒置肖特基(Schottky)場發(fā)射電子槍,提供高亮度高相干的電子束。電子槍使用壽命可達2000小時以上。

傳統(tǒng)TEM多采用100kV以上電子束加速電壓,高能電子束不能區(qū)分輕材料中相近的密度和原子序數(shù),對于輕元素樣品(C、N、O樣品,生物樣品)難以獲得好的對比度,影響圖像質量。

LVEM5采用5kV低電壓設計,低電壓電子束對密度和原子序數(shù)有很高的靈敏度,對于小到0.005 g/cm3的密度差別仍能得到很好的圖像對比度。例如,對20nm碳膜樣品,5KV電壓下比100KV電壓下對比度提高10倍以上。而LVEM5的空間分辨率在低電壓下仍能達到1.5nm。

未經(jīng)染色的老鼠心臟切片在80kV透射電鏡下得到的圖像,與LVEM5下得到的圖像。

LVEM5采用5kV低加速電壓,圖像具有更好的對比度.

美國Delong 臺式透射電子顯微鏡LVEM5(Bench-top TEM)(圖3)

TEM-STEM-ED-SEM 四種成像模式


TEM模式

LVEM5是世界上的臺式透射電子顯微鏡,同時也是的低加速電壓(5kV)透射電鏡。同傳統(tǒng)透射電鏡(80-200kV)相比,增加了電子束與樣品的相互作用,從而提高了圖像對比度

。 提高了圖像對比度

。 無需重金屬染色即可觀察輕元素樣品(如生物樣品)

。 避免染色造成的假象,觀察樣品真實結構

分辨率2nm,放大倍數(shù) 5000-202,000x,圖像采集:2048 x 2048

美國Delong 臺式透射電子顯微鏡LVEM5(Bench-top TEM)(圖4)

添加TEM升級選件,分辨率提升至1.5nm,放大倍數(shù) 50萬倍

STEM模式

在掃描透射電子顯微(STEM)模式下,電子束被聚焦到很小直徑,在樣品上進行掃描??捎糜谟^察厚度較厚的樣品或染色樣品

SEM模式

掃描電鏡(SEM)模式可用于觀察任意固體樣品。在SEM模式下,LVEM5采用4分割背散射探測器,提供多個觀測角度。

普通掃描電鏡在觀察不導電樣品時,需要對樣品進行噴金、噴碳處理,以增加樣品導電性。LVEM5的另一優(yōu)點在于,無需噴金可直接觀測不導電樣品。

分辨率10nm,放大倍數(shù) 640x - 100,000x,圖像采集像素:2048 x 2048


操作簡單,換樣快捷,成本低廉

LVEM5直觀的用戶界面、簡便的控制臺設計,使用戶僅需極少的培訓,即可輕松操作。讓用戶在使用時更加舒適。

不同于傳統(tǒng)透射電鏡每次更換樣品后需要幾十分鐘的抽真空時間,LVEM5更換樣品僅需3min,節(jié)省大量時間。

LVEM5S次購置費用遠低于傳統(tǒng)電鏡,且在一款儀器中集成了透射電鏡與掃描電鏡功能,真正的物超所值。LVEM5獨特的設計優(yōu)勢,在使用中無需冷卻水,無需專業(yè)實驗室,維持成本極低。

ED模式

電子衍射(ED)可用于確定樣品的晶體結構、結晶度、相組成.

美國Delong 臺式透射電子顯微鏡LVEM5(Bench-top TEM)(圖5)

美國Delong 臺式透射電子顯微鏡LVEM5(Bench-top TEM)(圖6)


應用案例

美國Delong 臺式透射電子顯微鏡LVEM5(Bench-top TEM)(圖7)


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