A333矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 租售A338

簡介的詳細資料：廖18320894501

A333網(wǎng)絡(luò)分析儀-頻率范圍:300kHz到3.2GHz

A338網(wǎng)絡(luò)分析儀-頻率范圍 300KHZ到8.5GHZ

頻率分辨率:1mHz

IF帶寬設(shè)置:1Hz到30kHz

功率范圍:-45dBm到+10dBm

功率精度:±1dB

顯示:10.4英寸TFT彩色液晶觸摸屏

用戶界面:USB2.0、以太網(wǎng)、鍵盤、鼠標、打印機、視頻

測量參數(shù)：S11、S21、S12、S22

測量通道數(shù)量:大到16個獨立的邏輯通道, 一個邏輯通道被定義為某一激勵信號設(shè)置,如頻率范圍、測試點數(shù)、功率等每個邏輯通道在屏幕上作為獨立的通道窗口顯示。

數(shù)據(jù)跟蹤：大到16個數(shù)據(jù)跡線顯示在各自的通道窗口上,一個數(shù)據(jù)跡線顯示被測器件的某一參數(shù),如S參數(shù)、時域響應(yīng)、輸入功率響應(yīng)。

存儲跟蹤：16個數(shù)據(jù)跡線的每一個都能將當前值保存到存儲器用于比較。

數(shù)據(jù)顯示格式：對數(shù)幅值、線性幅值、相位、延長相位、群延遲、駐波比實部、虛部、史密斯圓圖、極坐標

數(shù)據(jù)標記：每個跡線大到16個標記,對增量標記操作可應(yīng)用參考標記

史密斯圓圖支持5種標記格式:線形幅值相位、對數(shù)幅值相位、R + jX 和 G + jB極坐標支持3種標記格式:線形幅值相位、對數(shù)幅值相位、實部、虛部標記功能

標記搜索:搜索大值、小值、峰值、左峰值、右峰值、目標值、目標左值、目標右值、帶寬參數(shù)

搜索范圍設(shè)置:特定值跟蹤或單一操作搜索功能

通過標記設(shè)置參數(shù):通過標記的激勵值設(shè)置開始、停止、中心頻率, 通過標記的響應(yīng)值設(shè)置參考電平

掃描測量點數(shù):用戶自行設(shè)置2到10001

當激勵功率為固定值時：線性掃描、對數(shù)掃描、分段掃描

當頻率為固定值時：線性功率掃描

分段掃描特性:在幾個獨立的用戶定義的分段內(nèi)頻率掃描。應(yīng)為每個分段設(shè)置頻率范圍、掃描點數(shù)、源功率和IF帶寬

功率:源功率-45到+10dBm,精度為0.05dB,在頻率掃描模式中功率斜率可設(shè)置到高2dB去補償連接線中高頻衰減

掃描觸發(fā)模式：連續(xù)、單次、保持

觸發(fā)源：內(nèi)部、手動、外部

跡線顯示:數(shù)據(jù)跡線、存儲器跡線或數(shù)據(jù)和存儲器跡線同時顯示

通過數(shù)學(xué)運算更改數(shù)據(jù)跡線：對被測復(fù)雜值和存儲器數(shù)據(jù)進行加、減、乘、除

自動刻度:自動選擇刻度和基準值具有有效的顯示跡線

電延遲:在低損耗測試設(shè)置中、將校準面移動、對延遲補償,被測器件線性相位的偏離測量時的電延遲補償

相位偏移:相位偏移指定度數(shù)

統(tǒng)計:計算和顯示數(shù)據(jù)跡線的平均值、標準偏差、峰偏差

熟悉圖形用戶界面:基于Windows 操作系統(tǒng)的圖形用戶界面,保證了用戶快捷和容易的儀器使用

分析儀控制:使用個人電腦

圖表打印、儲存:預(yù)覽、存儲和打印可通過MS Work, Windows圖象瀏覽器或分析儀打印向?qū)硗瓿?/b>

編程功能:COM、DCOM自動控制

阻抗: 50Ω、75Ω

測試端口連接器: N-type、female

測試端口數(shù)量: 2

全部連續(xù)波形頻率精度:±5×10

測量點數(shù): 2 to10001

動態(tài)范圍: 130dB

每個點測量時間: 125微秒

源到接收端口轉(zhuǎn)換時間: 10ms

測量點數(shù): 51、201、401、1601

開始300kHz、停止10MHz、IF帶寬30kHz

未校正: 13ms、52ms、104ms、413ms

全二端口校準: 46ms、123ms、226ms、844ms

開始10MHz、停止3.2GHz、IF帶寬30kHz

未校正: 7ms、27ms、53ms、207ms

全二端口校準: 34ms、73ms、125ms、434ms

工作溫度范圍: +5℃to +40℃

存儲溫度范圍: -45℃to +55℃

校準:測試設(shè)置的校準顯著地增加測量的精度。校準允許對測量系統(tǒng)的不完整性引起的誤差進行校正：系統(tǒng)的定向、輸出源和負載匹配、跟蹤和隔離

校準方法:可以采用多種混合校準方法來提高精度水平。其中精確的是全一端口校準和全二端口校準

反射和傳輸標準化:對反射和傳輸測量的頻響誤差的幅度和相位校正

全一端口校準:頻響的幅度和相位校正,對一端口反射測量定向和輸出源匹配誤差校正

單路二端口校準:進行反射和單路傳輸測量,類似于一端口反射測量,頻響的幅度和相位校正,對反射測量的輸出源匹配誤差校正

全二端口校準:進行被測器件的全部的S參數(shù)矩陣測量,對反射和傳輸測量的頻響的幅度和相位校正定向和輸出源匹配和負載匹配和隔離。

定向校準:定向校正附加到反射校正

隔離校準:隔離校正附加到傳輸校正。全二端口校準中的單路二端口校準

糾錯插補:當使用者改變設(shè)置,如開始、停止頻率和掃描點數(shù),與校準時的設(shè)置進行比較、插補或校準推定被實行

端口阻抗轉(zhuǎn)換:在50Ω端口測量的S參數(shù)能轉(zhuǎn)換為在任意阻抗的測試端口被測定的值

去嵌入:此功能允許將連接校準面和被測器件的夾具回路的作用從測量結(jié)果中算術(shù)地除去。

嵌入:此功能允許將校準面和被測器件的夾具回路虛擬集成后,算術(shù)地模擬被測器件參數(shù)

此功能允許測量的S參數(shù)轉(zhuǎn)換為如下參數(shù)：反射阻抗、導(dǎo)納、傳輸阻抗和導(dǎo)納、S參數(shù)的倒轉(zhuǎn)