TESCAN CLARA 超高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡(SEM),前所未有的材料表征能力

CLARA 是一款應(yīng)用廣泛的多功能掃描電子顯微鏡,是基于成功的S8000 基礎(chǔ)上進一步研發(fā)的,其設(shè)計更能滿足材料科學(xué)的需求,適用于對各種不同類型材料的分析和表征。

CLARA 的分辨率可以達到亞納米級別,能夠揭示材料最細(xì)微的結(jié)構(gòu)。 TESCAN 獨特的 Wide Field Opticls? 技術(shù)幫助您在大視野下全方面了解樣品的構(gòu)成(最小放大倍數(shù)可至2倍),從而快速定位感興趣的區(qū)域。

TESCAN CLARA 在低電壓下仍保持了出色的分辨率,因而不僅適用于樣品極表面進行形貌觀察,同時也是表征光敏樣品和非導(dǎo)電樣品的理想選擇。 TESCAN CLARA ,不僅在低電壓下?lián)碛袠O佳的分辨率,而且能夠通過選擇二次電子和背散射電子的不同襯度,來探索樣品可能包含的大量信息,因而是分析測試中心或材料科學(xué)研究實驗室的最佳選擇。

新一代的電子光學(xué)和成像技術(shù)使 CLARA 成為任何分析測試中心,材料表征實驗室或工業(yè)檢測實驗室必不可少的設(shè)備。直觀,模塊化的用戶界面可根據(jù)每個操作員的需求進行定制,可以有效的提高工作效率。預(yù)設(shè)程序和最佳成像條件可以幫助新手用戶輕松獲得高質(zhì)量的圖像,并盡可能協(xié)助其完成能力范圍內(nèi)可操作的高端功能。

主要特點

獨特的鏡筒內(nèi) BSE 探測器設(shè)計可以根據(jù)能量和角度不同選擇信號

鏡筒內(nèi) BSE 探測器所安裝的特殊位置使得它可以同時采集不同 “出射”角度的背散射電子(BSE)。 Axial BSE 探測器收集近軸背散射電子信號,而 Multidetector(BSE)則收集中角背散射電子信號, 這兩個信號是明顯不同的。 通過 Axial BSE 探測器我們可以抑制不希望看到的由于樣品的表面形貌引起的干擾,從而觀察到最佳的材料成分襯度。 相比之下,Multidetector(BSE)收集中角背散射電子,獲得既有成分襯度又有形貌襯度的圖像,但更凸顯表面形貌的特點。 Multidetector 配有一個能量過濾器,可以實現(xiàn)二次電子信號和背散射電子信號的能量過濾,以便增強背散射電子的襯度。

電子束敏感樣品和非導(dǎo)電樣品的理想選擇

完美的鏡筒和探測器系統(tǒng)的一體設(shè)計,無需施加樣品減速偏壓,即可實現(xiàn)電子束 50 eV 的低著陸能量,避免了樣品產(chǎn)生損傷和荷電效應(yīng),并實現(xiàn)出色的成像性能,是觀察各種不導(dǎo)電樣品的理想選擇。

電子束的快速設(shè)置 – 實現(xiàn)最佳的成像和分析條件

EquiPower? 透鏡技術(shù)可實現(xiàn)高效的散熱并保證電子鏡筒的穩(wěn)定性。同時結(jié)合使用了實時電子束實時優(yōu)化技術(shù),使 TESCAN CLARA 能夠在全部束流范圍下獲得優(yōu)異的高分辨率圖像和(EDS / EBSD)分析能力。

無需光學(xué)導(dǎo)航相機,利用低倍率實時SEM圖像實現(xiàn)直觀、精確的導(dǎo)航

獨特的 Wide Field Optics? 技術(shù)以及雙物鏡的設(shè)計,實現(xiàn)不失真的大視場觀察并具有多種成像模式。 成像模式間的切換和高、低倍圖像的切換僅需一次鼠標(biāo)點擊即可獲得。

無漏磁超高分辨透鏡,低電壓下實現(xiàn)材料表面形貌細(xì)節(jié)的高靈敏表征

BrightBeam? 鏡筒實現(xiàn)無漏磁超高分辨率成像能力,對包括磁性樣品在內(nèi)的各類樣品具有廣泛的適用能力。

模塊化Essence? 軟件,直觀易用,不同技術(shù)水平的用戶,均可輕松操作

TESCAN Essence? 軟件使操作電鏡變得前所未有的簡單, 簡化且符合用戶習(xí)慣的操作界面大大提升了工作效率。 操作人員可以通過簡單的搜索就可以輕松訪問所有功能模塊,并可將功能模塊拖放到顯示屏上。 此外,任何等級的操作員都可以輕松地將電鏡的設(shè)置恢復(fù)為之前的條件或?qū)Ш降街暗膮^(qū)域。 先進的實時3D碰撞模型可防止樣品移動過程中可能發(fā)生的危險動作。