理學(xué)的MiniFlex更新了X射線衍射儀的定義 

X射線衍射法是用于材料分析的有效且成熟的技術(shù)，水泥、催化劑、石 油、能源和制藥等行業(yè)的從基礎(chǔ)研究到質(zhì)量管理各環(huán)節(jié)均利用該技術(shù)分析材料表征。同時(shí)，它也是地質(zhì)學(xué)、材料科學(xué)、化學(xué)和晶體學(xué)專業(yè)需要教授的一項(xiàng)重要分析手段。 

理學(xué)的MiniFlex是功能齊全的通用型X射線衍射儀，可進(jìn)行多晶材料的定性和定量分析。在定性分析中，可通過(guò)與已知相數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行對(duì)比來(lái)識(shí)別未知結(jié)構(gòu)（化學(xué)組成或晶相）。在定量分析中，可分析固體混合物表征，以確定晶體化合物的相對(duì)含量。

第六代MiniFlex保留了以往頗受用戶好評(píng)的一些特點(diǎn)： 

·可安裝在工作臺(tái)上的小巧機(jī)身 

·600W大功率的X射線管 

·易于使用、操作和維護(hù) 

·論文產(chǎn)出率高 

并提供以下高端功能和選配： 

·HyPx-400MF-多維硅陣列探測(cè)器 

·以二維或一維模式采集數(shù)據(jù) 

·搭載最新開(kāi)發(fā)的軟件SmartLab 

Studioll 

·8位自動(dòng)進(jìn)樣器 

·氣密樣品臺(tái) 

·旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)

D/teX Ultra 

一維硅陣列探測(cè)器 

標(biāo)準(zhǔn)配置高性能探測(cè)器D/teX Ultra,使X射線強(qiáng)度較以往的閃爍計(jì)數(shù)器大約提高了數(shù)十倍~百倍以上，因而可以進(jìn)行高速及高強(qiáng)度的測(cè)量。 

D/teX Ultra可選配石墨單色器，從而優(yōu)化信噪比（如上圖）還可抑減來(lái)自含F(xiàn)e、Ni、Co和Mn樣品的熒光X射線。

HyPix-400 MF 

多維測(cè)量硅陣列探測(cè)器 

MiniFlex還可選配HyPix-400MF多維測(cè)量硅陣列探測(cè)器，可進(jìn)行一維和二維測(cè)量，具有高速、寬動(dòng)態(tài)范圍和低噪聲等特點(diǎn)，因而應(yīng)用范圍較廣。除了傳統(tǒng)的粉末衍射以外，還可進(jìn)行以往被視為難點(diǎn)的微量樣品測(cè)量以及大晶粒或擇優(yōu)取向樣品的分析。

X射線粉末衍射：定量分析包（選配） 

支持內(nèi)標(biāo)法、外標(biāo)法和標(biāo)準(zhǔn)添加法。 

X射線粉末衍射：綜合分析包（選配）》 

讀入測(cè)量數(shù)據(jù)后，通過(guò)自動(dòng)擬合可以算出晶粒尺寸、晶格畸變和結(jié)晶度，可以進(jìn)行晶格常數(shù)的精修，并通過(guò)上述結(jié)果可以確認(rèn)：結(jié)構(gòu)與物理特性之間的關(guān)系隨樣品的不同而發(fā)生變化。 

X射線粉未衍射：Direct Deviation Method(DD法) 

DD法是理學(xué)的虎谷秀穗教授于2016年發(fā)明的。只要知道樣品各相的積 分強(qiáng)度和組成式，便可計(jì)算定量值。較之以往的RR法（即使用一個(gè)衍 射峰的積分強(qiáng)度和RR值計(jì)算定量值的方法)不易受取向和峰重疊的影響。 

X射線粉末衍射：Riedveld分析包 

在進(jìn)行全圖擬合(WPPF)之后識(shí)別晶相，無(wú)需校正曲線和標(biāo)準(zhǔn)樣品， 

由測(cè)量數(shù)據(jù)道接計(jì)算定量值。

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