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德國NETZSCH 閃射法導熱儀 LFA 467 HyperFlash

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產(chǎn)品特點

LFA 467 HyperFlash 閃射法導熱儀,自由選擇測試氣氛,優(yōu)化結構設置與閃射光源,16位自動進樣器,極高的測量效率,寬廣的溫度范圍,靈活配備冷卻系統(tǒng),設計獨特,性能優(yōu)異,配備氙燈光源的,高溫測試系統(tǒng),寬廣的溫度范圍,真空密閉爐體,確保氣氛純凈,防止氧化,內(nèi)置微型管式爐,更高的測量效率,高數(shù)據(jù)采集速率- 用于薄膜與高導熱材料的解決方案

詳細介紹

閃射法導熱儀

LFA 467 HyperFlash? 系列

熱擴散系數(shù)與導熱系數(shù)的測量方法,技術,應用


導熱系數(shù)/熱擴散系數(shù)

多少熱量被傳遞?傳遞速度多快?

一直以來,研究人員和工程師都在尋找一種最 佳的測試方法,這種方法可精確測定高導熱材料在中低溫下,陶瓷和耐火材料在高溫下的熱物性。解決這些問題的關鍵其實只需要精確地得到兩個參數(shù):熱擴散系數(shù)和導熱系數(shù),而這兩個參數(shù)都可使用激光閃射法儀器測得。激光閃射法操作簡便,測試結果精確可靠。此類方法可滿足研究熱傳導過程中遇到的典型問題,例如:

? 鋁錠凝固有多快?

? 催化轉化器中的陶瓷部件傳熱有多快?

? 陶瓷剎車片在使用過程中的溫度分布是怎樣的?

? 對于處理器,如何選擇合適的熱交換材料?

多年來,耐馳公司一直是激光閃射導熱測量技術的引領者,已成功地將此技術的應用溫度范圍擴展至-125°C…2800°C。我們從不停止技術創(chuàng)新和應用拓展。LFA 467 Hyperflash?和LFA 467 HT Hyperflash?繼承了耐馳的卓 越傳統(tǒng),再一次成為業(yè)界標桿之作



LFA 467 HyperFlash?



優(yōu)化結構設置與閃射光源

LFA 467 HyperFlash?儀器整體設計為垂直式結構。其中,激光源位于儀器底部,樣品置于中間部位,檢測器在頂部。脈沖能量可通過軟件自動調(diào)節(jié),亦可通過選配的濾光片轉盤進一步優(yōu)化;脈沖寬度可在10μs至1500μs范圍內(nèi)調(diào)節(jié)。


16位自動進樣器,極高的測量效率

LFA 467 HyperFlash?可配備高達16位的自動進樣器。其中可放置4個支架,每個支架內(nèi)最 多可容納4個樣品;樣品的形狀可自由選擇圓形或方形。儀器配備大容量的液氮杜瓦瓶,保證檢測器長時間正常工作。


寬廣的溫度范圍

無需更換爐體和檢測器,LFA 467 HyperFlash?的檢測溫度即可覆蓋-100°C(低于橡膠材料的玻璃化轉變溫度)至高溫500°C。用戶可根據(jù)需求配備不同冷卻設備,大大減少測量時間。該儀器加熱速率最 高可達50K/min,且保證控溫的高穩(wěn)定性


靈活配備冷卻系統(tǒng)


該儀器可配備液氮制冷系統(tǒng),測試溫度最 低至-100°C。如配備真空系統(tǒng),使得樣品處于低壓氣氛中,可進一步減少熱損耗的影響,得到更加精確的結果。此外,也可選配壓縮空氣裝置。所有冷卻設備使用時均可同時吹掃惰性氣氛。


設計獨特,性能優(yōu)異

配備氙燈光源的高溫測試系統(tǒng)

LFA 467 HT HyperFlash?的誕生基于LFA 467 HyperFlash?的成熟技術,擁有創(chuàng)新的光源系統(tǒng)。長壽命的氙燈可在1250°C范圍內(nèi)提供高性價比的測試,沒有任何昂貴的耗材


寬廣的溫度范圍


LFA 467 HT HyperFlash?是市面上第一臺配置氙燈光源、且最 高溫度可達到1250°C的激光導熱儀。結合集成的自動進樣器,可以覆蓋整個溫度范圍,同時保持LFA 467HyperFlash?系列一貫的測量準確性。外部的循環(huán)水浴可有效保護爐體周圍的部件,即使爐體在高溫下,其周圍的部件仍處于安全的溫度范圍,進而提高測量可靠性,并降低檢測器的液氮消耗量。



真空密閉爐體,確保氣氛純凈,防止氧化


儀器可配備真空泵,支持每一次測試開始前自動抽真空,以確保氣氛純凈。儀器也可連接外部真空泵。真空密閉的鉑爐支持最 大50K/min升溫速率。



內(nèi)置微型管式爐,更高的測量效率


儀器配備四個獨立的微型管式爐。高速加熱爐體使得LFA的測試效率非常高。儀器配備四個樣品位,每一個下方都配備有單獨的熱電偶,使得控溫穩(wěn)定時間大大縮短。您可以在一個小時以內(nèi)完成全溫度范圍內(nèi)十個溫度步階測量。儀器配備有自動進樣系統(tǒng),可適用于?12.7 mm的圓形樣品支架和?10mm的圓形或方形樣品支架。



高數(shù)據(jù)采集速率- 用于薄膜與高導熱材料的解決方案


LFA 467 HyperFlash?系列的數(shù)據(jù)采集速率提高到了2MHz(包括IR檢測器和pulse mapping通道)。因此,儀器可以可靠地測試傳熱時間極短的一些樣品,如高導熱材料、薄膜材料等。在測試金屬(0.3mm)與聚合物薄膜(30μm)時,可以選擇最 優(yōu)的采樣速率與脈沖寬度。結合專利的pulse mapping系統(tǒng)(專利號:US7038209 B2US20040079886DE10242741),可對脈沖寬度效應與熱損耗進行有效修正。



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