基于成熟的NanoWizard技術(shù)，NanoWizard Sense+可在空氣和液體中對(duì)從單分子、活細(xì)胞和組織到聚合物和納米材料的樣品進(jìn)行高性能的測(cè)量。

由于其模塊化和靈活的設(shè)計(jì)，它可以很容易地升級(jí)為一個(gè)完整的NanoWizard? 4 XP系統(tǒng)，并具有特定的應(yīng)用組件和附加功能。

NanoWizard系列以其廣泛的可選配件、模式和功能而聞 名，為您的所有應(yīng)用提供最 高的靈活性。

樣品兼容： 可以通過(guò)特殊選配來(lái)實(shí)現(xiàn)大的標(biāo)準(zhǔn)樣品體積（?140×18mm3）的測(cè)量，如電動(dòng)定位，用于施加機(jī)械負(fù)荷于樣品的StrechingStage，用于較高樣品的Headup臺(tái)（最 高14cm），以及用于高NA直立光學(xué)的BioMAT?的穿梭臺(tái)。

溫度控制：高溫和低溫選項(xiàng)（例如，獨(dú)特的CryoStage：-120°C至220°C），有或沒(méi)有灌注或氣體控制。

開(kāi)放訪問(wèn)： 實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)的最 大通用性，例如，在AFM上同時(shí)使用微吸管或電探針與樣品接觸。

電學(xué)測(cè)試： 導(dǎo)電AFM、KPM、EFM、MFM、STM、壓電力顯微鏡、帶溫度控制的電化學(xué)和光學(xué)儀器

機(jī)械測(cè)量： 優(yōu)化力成像、接觸共振成像、納米操縱、納米光刻和納米壓痕。涵蓋從單分子力譜學(xué)到粘彈性力學(xué)的先進(jìn)力譜。

完善的光學(xué)集成： NanoWizard AFMs與光學(xué)具備優(yōu)異的整合能力。由于其獨(dú)特的針尖掃描設(shè)計(jì)，該系統(tǒng)可以與先進(jìn)的光學(xué)系統(tǒng)相結(jié)合，與標(biāo)準(zhǔn)的聚光鏡和反射顯微鏡同時(shí)使用，甚至可以穿過(guò)薄的蓋玻片，并在所有主要的倒置光學(xué)顯微鏡上使用。

成像模式

·        帶有橫向力顯微鏡（LFM）的接觸模式

·        具有Phase Imaging?的輕敲模式?

力學(xué)測(cè)量

·        靜態(tài)和動(dòng)態(tài)力譜

·        高級(jí)力學(xué)成像

可選模式

·        新：峰值力輕敲

·        高次諧波成像

·        新：接觸共振AFM

·        導(dǎo)電AFM

·        開(kāi)爾文探針顯微鏡

·        磁力顯微鏡與靜電力顯微鏡

·        掃描隧道顯微鏡

·        電學(xué)譜模式

·        壓電響應(yīng)顯微鏡

·        具有溫度控制和光學(xué)顯微鏡的電化學(xué)

·        納米印刷

·        納米操作

·        納米壓痕

·        掃描熱AFM

·        新：來(lái)自Cytosurge的FluidFM?解決方案

·        ExperimentPlanner用于設(shè)計(jì)特定的測(cè)量工作流程

·        RampDesigner?，用于自定義Clamp和Ramp實(shí)驗(yàn)

·        遠(yuǎn)程實(shí)驗(yàn)控制的ExperimentControl功能

·        新：DirectOverlay 2用于AFM和光學(xué)顯微鏡聯(lián)用