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賽默飛世爾 K-Alpha X 射線光電子能譜儀 (XPS) 系統(tǒng)
- 品牌:賽默飛世爾
- 型號: K-Alpha X
- 產地:美洲 美國
- 供應商報價:面議
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賽默飛電子顯微鏡
更新時間:2025-04-27 16:29:01
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銷售范圍售全國
入駐年限第8年
營業(yè)執(zhí)照已審核
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產品特點
- 以較小的投入獲得研究級結果。Thermo Scientific? K-Alpha? X 射線光電子能譜儀(XPS)系統(tǒng)是一種完全集成式單色小光斑 XPS 系統(tǒng),具備深度剖析能力。先進的性能、降低的擁有成本、更高的易用性以及緊湊的尺寸使 K-Alpha X 射線 XPS 系統(tǒng)適用于多用戶環(huán)境。
詳細介紹
產品介紹:
旨在提高從研究應用到常規(guī)應用的生產率
K-Alpha 光譜儀的光譜分析性能顯著改善。這一巨大的進步可實現更快的分析、更好的元素檢測以及獲得更高分辨率的數據以實現更好的化學狀態(tài)鑒定的可能性。
分析選件包括一個用于將空氣敏感樣品從手套箱轉移到系統(tǒng)的真空傳遞模塊以及用于 ARXPS 數據采集的傾斜模塊。配備 Thermo Scientific? Avantage 數據系統(tǒng)(全面的表面分析軟件系統(tǒng)),K-Alpha 具有一系列的軟件功能,設計用于優(yōu)化數據解讀、數據報告和可用性。K-Alpha XPS 系統(tǒng)可滿足經驗豐富的 XPS 分析員和新手的要求,將高性能單色 XPS 和濺射深度剖析與智能自動化和直觀控制結合在一起。
強大的性能
可選面積能譜分析
濺射深度剖析
微聚焦單色器
快照采集
高分辨率化學狀態(tài)能譜分析
絕緣樣品分析
定量化學成像
無以倫比的易用性
采集 — 光譜、圖像、曲線、線掃描
解讀 — 元素和化學狀態(tài)鑒定
處理 — 定量、峰擬合、實時曲線顯示、光譜圖像處理、PCA、相分析、TFA、NLLSF、PSF 扣除、光學/XPS 圖像疊加
報告 — 自動生成報告且可輕松導出到其他軟件包
控制 — 所有硬件都通過 Avantage 軟件界面進行控制
Avantage Indexer — 數據存檔管理
審計跟蹤記錄
系統(tǒng)性能記錄
按需校準
完全遠程操控
主要特點
分析儀 — 180° 雙聚焦半球形分析儀,配備128通道檢測器
X 射線源 — Al Ka 微聚焦單色器,光斑尺寸可變
離子槍 — 能量范圍 100-4000 eV
電荷補償 — 雙束源
樣品量 — 4軸樣品臺、60 x 60 mm 樣品區(qū)域、20 mm 最 大樣品厚度
選件 — 真空轉移模塊、ARXPS 傾斜模塊、樣品偏倚模塊
技術資料
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