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德國布魯克 三維X射線顯微鏡(XRM)SKYSCAN 1272 CMOS Edition

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產品特點

SKYSCAN 1272 CMOS 版建立在值得信賴的 SKYSCAN 1272 桌面 X 射線顯微鏡平臺上,并結合了全新的 X 射線技術,將 XRM 提升到一個新的水平。
先進的 16 兆像素 CMOS X 射線探測器可提供具有優(yōu)異分辨率的高對比度圖像。增大的探測器視野和增強的 X 射線靈敏度可將掃描時間縮短兩倍。

詳細介紹

產品介紹:

SKYSCAN 1272 CMOS 

憑借Genius模式可自動選擇參數。只需單擊一下,即可自動優(yōu)化放大率、能量、過濾、曝光時間和背景校正。

而且,由于能讓樣品和大尺寸CMOS探測器盡可能地靠近光源,它能大幅地增加實測的信號強度。正是因為這個原因,SKYSCAN 1272 CMOS 的掃描速度比探測器位置固定的常規(guī)系統(tǒng)  多可快5倍。


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自動進樣器


SKYSCAN 1272 CMOS 可以選擇配合一個有16個位置的外置自動進樣器,以增加進行質量控制和常規(guī)分析時的處理速度。

自動進樣器可以容納不同尺寸的樣品,樣品直徑極限可達96 mm。

可以隨時很方便地切換樣品,不會中斷正在進行的掃描過程。系統(tǒng)可以自動檢測新樣品,LED可以顯示每一次掃描的狀態(tài):準備、掃描和完成。


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原位試驗臺


布魯克的材料試驗臺可以進行極限4400 N的壓縮試驗和極限440 N的拉伸試驗。所有試驗臺都能通過系統(tǒng)的旋轉臺自動聯(lián)系到一起,而無需任何外接線纜。通過使用所提供的軟件,可以設置預定掃描試驗。

布魯克的加熱臺和冷卻臺可以達到極限+80oC或底線低于環(huán)境溫度低30oC的溫度。和其它的試驗臺一樣,加熱和冷卻臺也不需要任何額外的連接,系統(tǒng)可以自動地識別不同的試驗臺。通過使用加熱臺和冷卻臺,可在非環(huán)境條件下檢測樣品,從而評估溫度對樣品微觀結構的影響。


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重 點應用

纖維和復合材料

通過將材料組合成復合材料,獲得的組件可以擁有更高的強度,同時大大減輕重量。而要想進一步優(yōu)化組件性能,就必須確保組成成分的方向能被優(yōu)化。 常用的組分之一是纖維,有混凝土中的鋼筋,電子元件中的玻璃纖維,還有航空材料中的碳納米管。XRM可用于檢測纖維和復合材料,而無需進行橫切,從而確保樣品狀態(tài)不會在制備樣品的過程中受到影響。

     ·嵌入對象的方向

     ·層厚、纖維尺寸和間隔的定量分析

     ·采用原位樣品臺檢測溫度和物理性質

藥物

新藥開發(fā)是個費時費錢的過程。,XRM可以在產品配方階段即時提供產品內部結構,加快新藥上市。

     ·確定片劑的壓實密度

     ·測量包衣厚度均勻性

     ·評估API分布

     ·檢測被壓實的片劑中由應力導致的微型裂隙

     ·利用原位壓縮檢測力學性能


泡沫材料


泡沫材料在工業(yè)上有廣泛的應用。根據泡沫的材質和結構特性,可以用作隔熱或隔音材料,也可以用作保護或過濾裝置中的減震結構……

XRM可以無損地實現(xiàn)泡沫內部結構的三維可視化。

     ·確定局部結構的厚度

     ·確定結構間隔以實現(xiàn)空隙網絡的可視化

     ·通過壓縮和拉伸臺進行原位力學試驗

     ·確定開孔孔隙度和閉孔孔隙度


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電子


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地質


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木材


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食品



技術參數:

特征
參數
優(yōu)勢
X 射線源

40 ~ 100 kV

10 W

< 5 μm 點尺寸,4 W

免維護、全密封的X射線源

通過快速掃描實現(xiàn)質量控制,或4D XRM

X射線探測器

CMOS 探測器

16 Mp (4096 x 4096)

排列精密的探測器可實現(xiàn)最 高分辨率
樣品尺寸

最 大直徑 75 毫米

最 大高度80 毫米

適用于小-中等尺寸樣品

自動進樣器

(可選項)

16種樣品,直徑最 大可達50 mm

8 種樣品,直徑最 大 可達 96 mm

外置

無人值守,高通量

大小樣品隨意組合

隨時添加/取出樣品,不中斷掃描過程

尺寸

1160 毫米 x 520 毫米 x  330 毫米(寬x深x高)

重量 150 千克

選配自動進樣器

節(jié)省空間的、適合每一個實驗室的臺式系統(tǒng)
電源
100-240V ,50-60Hz,最 大 3A
安裝需求最 低,標準電源即能滿足要求



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