硅橡膠材料耐壓擊穿試驗儀流程（注意：在開始任何測試前請參見第7章。）電壓使用的方法：方法A，快速測試法—如圖1所示，從零點到擊穿發(fā)生，以一定的增壓速度，將均勻的電壓施加到試驗電極上。除非另有說明，否則將采用快速測試法。在確定增壓速度時，為了使增速包含在新的規(guī)定值中，對于給定的測試樣，應(yīng)選擇在10到20s內(nèi)就發(fā)生擊穿的增速。在某些場合，有必要進行1到2次的預(yù)測試，以確定增速。對于大多數(shù)材料而言，使用500V/s的增速。如果文件參考本測試方法所的增速，那么即使擊穿時間偶然出現(xiàn)在10到20s的范圍之外，也應(yīng)繼續(xù)采用。如果出現(xiàn)這種情況，應(yīng)在報告中記錄下失效次數(shù)。

硅橡膠材料耐壓擊穿試驗儀如果要進行一系列測試以比較不同的材料，應(yīng)采用相同的增速，盡量使平均時間保持在10到20s之間。如果擊穿時間不能保持在該范圍內(nèi)，應(yīng)在報告中說明。

12.2.2方法B，逐步測試——以合適起始電壓施加到測試電極上，并按圖2所示，逐步增加電壓，直到發(fā)生擊穿。

12.2.2.1從圖2中所列的表格，可以選擇起始電壓Vs，在快速測試中，此電壓應(yīng)接近試驗測定或預(yù)期擊穿電壓的50%。

12.2.2.2如果起始電壓低于圖2所列的電壓，建議以起始電壓的10%作為逐步增加的電壓。

12.2.2.3在沒有超6.1.3所規(guī)定的電壓峰值的情況下，盡快得將起始電壓從由零開始升高。同樣的要求也適用于相鄰步驟之間電壓的升高。在完成初的步驟后，將電壓升高到相鄰步驟所需的時間應(yīng)計入相鄰步驟的時間中。

12.2.2.4如果在向下一步升高電壓的過程發(fā)生擊穿，測試樣具有忍耐電壓Vws，其應(yīng)等于己完成步驟的電壓。如果擊穿發(fā)生在任何步驟持續(xù)期結(jié)束之前，測試樣的忍耐電壓Vws都按后完成步驟的電壓計算。擊穿電壓Vbd用于計算絕緣強度。通過厚度和忍耐電壓Vws計算出絕緣強度。（參見圖2）

12.2.2.5要求在超過120s時間內(nèi)，在10步中發(fā)生4次擊穿。如果一組中有多個測試樣發(fā)生的擊穿次數(shù)少于3次，或是時間達不到120s的情況，應(yīng)將起始由壓降低后，重新測試。如果在12步之前或720s后仍未發(fā)生擊穿，則應(yīng)提高起始電壓。

12.2.2.6記錄下起始電壓，電壓增加步數(shù)，擊穿電壓以及擊穿電壓所持續(xù)的時間長度。如果失效發(fā)生在電壓剛剛增加到起始電壓的時候，則失效時間為0。

12.2.2.7應(yīng)根據(jù)測試的目的，說明有關(guān)電壓步數(shù)的其他時間長度。通常使用的時間長度為20s到300s（5分鐘）。對于研究來說，在某些場合有必要對給定材料進行大于普通時間長度的測試。

12.2.3方法C，慢速測試——向測試電極施加起始電壓，按圖3所示增速增加電壓直到發(fā)生擊穿。

12.2.3.1從按12.2.1規(guī)定的慢速測試中選擇起始電壓。所選擇的起始電壓應(yīng)滿足12.2.2.3的要求。

12.2.3.2從有關(guān)本測試法的文件所規(guī)定的起始電壓開始，以一定的電壓增速增加電壓。通常，所選的增速應(yīng)與逐步測試的平均增速近似。

12.2.3.3如果一組有多個測試樣都在不到120s內(nèi)發(fā)生擊穿，那么應(yīng)降低起始電壓或降低增速，抑或同時降低。

12.2.3.4如果一組中有多個測試樣的擊穿電壓不到起始電壓的1.5倍，則應(yīng)降低起始電壓。如果在大于起始電壓2.5倍的電壓下（以及在120s后才發(fā)生擊穿），不斷出現(xiàn)擊穿，應(yīng)提高起始電壓。

合適的起始電壓，Vs分別是0.25, 0.50, 1, 2, 5, 10, 20, 50和100kV。

圖2 逐步測試電壓示意圖

圖3 慢速測試電壓示意圖

ASTM D149-2009介電擊穿電壓試驗方法

12.3擊穿的標(biāo)準(zhǔn)——電介質(zhì)失效或是擊穿（D1711術(shù)語中所定義的）包括增加電導(dǎo)以限制電場的維持。在測試中，可以通過對橫穿測試樣厚度的目測和斷裂聲來清楚得判斷該現(xiàn)象。在擊穿區(qū)域內(nèi)可以觀察到測試樣被擊穿和分解。此類擊穿通常為不可逆過程。重復(fù)使用電壓有時會在低電壓情況下（有時將低于可測量值），造成擊穿，并在擊穿區(qū)域內(nèi)伴有其他的損壞。這類重復(fù)使用的電壓常帶來擊穿的積極證據(jù)，可以使擊穿的路徑更加清晰可見。

12.3.1在某些場合，泄露電流的快速增加會造成電壓源的跳閘，而沒有在測試樣上留下任何可視損壞。這類失效，通常與高溫條件下的慢速測試有關(guān)，會造成可逆的結(jié)果，如果在重新施加電壓之前將測試樣冷卻到其起始測試溫度，就能恢復(fù)其絕緣強度。對于發(fā)生此類失效來說，電壓源會在相對較低的電流條件下斷開。

12.3.2在某些場合，由于閃絡(luò)，局部放電，高電容測試樣中的無功電流或是斷路器的故障問題都會造成電壓源的斷開。測試中的此類間斷不會造成擊穿（除了閃絡(luò)測試外），而發(fā)生此類間斷的測試也不能視為滿意的測試。

12.3.3如果斷路器設(shè)置的電流太高，或是如果斷路器的故障存在問題，將會造成測試樣的過度燃燒。v 介質(zhì)的擊穿：外加電場強度超過某一臨界值時，材料中形成 或存在電荷順利通過的擊穿“隧道” ，使材料破壞，介質(zhì)由 介電狀態(tài)變?yōu)閷?dǎo)電狀態(tài)的現(xiàn)象。

v 介電強度：使介質(zhì)發(fā)生擊穿的臨界電場強度。2. 電擊穿

v 固體介質(zhì)電擊穿的碰撞理論：

?強電場作用下，固體導(dǎo)帶中因冷或熱發(fā)射存在一些電子， 這些電子被加速，獲得動能；

?高速電子與晶格振動相互作用，把能量傳遞給晶格；

?一定溫度和場強下平衡時，固體介質(zhì)有穩(wěn)定的電導(dǎo)；

?當(dāng)電子從電場中獲得能量大于傳遞給晶格振動能量時， 電子動能越來越大；

?大到一定值，電子與晶格振動的相互作用導(dǎo)致電離產(chǎn)生 新電子，使電子數(shù)目迅速增加，電導(dǎo)進入不穩(wěn)定狀態(tài)， 發(fā)生擊穿。符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T1408.1-2016；IEC60243-1：2013；GB/T1408.2-2016；IEC60243-2：2013；ASTM D149；GB/T1695-2005；

擊穿形式:

1、電擊穿

在強電場的作用下原來處于熱運動狀態(tài)的少數(shù)“自由電子”將沿反電場方向 定向運動。在其運動過程中不斷撞擊介質(zhì)內(nèi)的離子,同時將其部分能量轉(zhuǎn) 給這些離子,當(dāng)外加電壓足夠高是,自由電子定向運動的速度超過一定臨 界值可使介質(zhì)內(nèi)的離子電離出次級電子,這些電子都會從電場中吸取能量 而加速,又撞擊出第三級電子,連鎖反應(yīng)將造成大量自由電子形成 “雪 崩” ,導(dǎo)致介質(zhì)的擊穿,這個過程大概只需要10-7-10-8s的時間,因此 電擊穿往往是瞬息完成的。

2、熱擊穿

絕緣材料在電場下工作時由于各種形式的損耗,部分電 能轉(zhuǎn)變成熱能,使介質(zhì)被加熱,若器件內(nèi)部產(chǎn)生的熱量 大于器件散發(fā)出去的熱量,則熱量就在器件內(nèi)部積聚, 使器件溫度升高,升溫的結(jié)果進一步增大損耗,使發(fā)熱 量進一步增多,這樣惡性循環(huán)的結(jié)果使器件溫度不斷上 升,當(dāng)溫度超過一定限度時介質(zhì)會出現(xiàn)燒裂、熔融等現(xiàn) 象而完全喪失絕緣能力,這就是介質(zhì)的熱擊穿。

3、化學(xué)擊穿

長期運行在高溫、潮濕、高電壓或腐蝕性氣體環(huán)境 下的絕緣材料往往會發(fā)生化學(xué)擊穿,化學(xué)擊穿和材 料內(nèi)部的電解、腐蝕、氧化、還原、氣孔中氣體電 離等一系列不可逆變化有很大的關(guān)系,而且需要相

當(dāng)長時間,材料被“老化” ,逐漸喪失絕緣性能, 導(dǎo)致被擊穿而破壞。

化學(xué)擊穿的機理:

(1)在直流和低頻交變電壓下,由于離子式電導(dǎo)引起電解過程,材料中發(fā) 生電還原作用,使材料的電導(dǎo)損耗急劇上升, 由于強烈發(fā)熱成為熱化 學(xué)擊穿;

(2)當(dāng)材料中存在著封閉氣孔時,由于氣體的游離放出的熱量使器件溫度 迅速上升,變價金屬氧化物在高溫下金屬離子加速從高價還原成 離子, 甚至還原成金屬原子,使材料電子式電導(dǎo)大大增加,電導(dǎo)的增加反過來又 使器件強烈發(fā)熱,導(dǎo)致終擊穿。

影響抗電強度的因素:

(1)溫度溫度對電擊穿影響不大;對熱擊穿影響較大,溫度升高使材料的漏導(dǎo)電流增大,損耗增大,發(fā)熱量增 加,促進了熱擊穿的產(chǎn)生;環(huán)境的溫度升高使器件內(nèi)部的熱量不容易散發(fā),進一步加大了熱擊穿傾向。 溫度升高使材料的化學(xué)反應(yīng)加速,促使材料老化,加快了化學(xué)擊穿的進程。

(2)頻率

頻率對熱擊穿有很大的影響,在一般情況下,如果其他條件不變,則E穿與 頻率w的平方根成反比,即:抗電強度的測量與應(yīng)用:在特定的條件下進行,標(biāo)準(zhǔn)GB/T1408.1-2016;IEC60243-1:2013;GB/T1408.2-2016;IEC60243-2:2013;ASTM D149;GB/T1695-2005;規(guī)定了固體電工材料頻擊穿電壓,擊穿場強,耐電壓的實驗方法。對試樣的尺寸,電極的形狀,加壓方式等都做了規(guī)定。

3. 熱擊穿

v 熱擊穿的本質(zhì)：

?處于電場中的介質(zhì)，由于介質(zhì)損耗而受熱；

?當(dāng)外加電壓足夠高時，散熱和發(fā)熱從平衡狀態(tài)轉(zhuǎn)入非平 衡狀態(tài)；

?若發(fā)熱量比散熱量多時，熱量就在介質(zhì)內(nèi)部聚集，使介 質(zhì)溫度升高；

?溫度升高又導(dǎo)致電導(dǎo)率和損耗的進一步增加，介質(zhì)的溫 度將越來越高，直至出現(xiàn)性破壞。

12.4測試的數(shù)量——對于特定材料，除非另有說明，否則應(yīng)進行5次擊穿。選擇連續(xù)升壓設(shè)置方法：

如是50KV電壓擊穿,使用量程“50”, 如是100KV電壓擊穿, 使用量程“100”，保護電流“5”，電極尺寸“75×25”或“25×25”，峰降電壓,根據(jù)試樣擊穿電壓大小設(shè)置,如低于5KV,可設(shè)1KV以下。

逐級升壓設(shè)置方法：

設(shè)置初始電壓如“5”梯度電壓如“5”，梯度時間可根據(jù)具體要求設(shè)置，其他設(shè)置與連續(xù)升壓設(shè)置一樣。

慢速升壓設(shè)置方法：

   設(shè)置和連續(xù)升壓設(shè)置是一樣的，不一樣就是多個初始電壓，如設(shè)“5”就是在5KV以下不出曲線，電壓升到5KV時才出曲線。

耐壓升壓設(shè)置方法：

  設(shè)置和逐級升壓設(shè)置是一樣的，初始電壓就是給試樣施加的電壓（根據(jù)要求添加），梯度時間就是給試樣施加電壓，在設(shè)定時間（根據(jù)要求設(shè)置）內(nèi)，不擊穿為合格。

4、做實驗

油盒里注入25#變壓器油，漫過上電極15～20mm，放入試樣，關(guān)閉門，此時門位指示燈亮，按下高壓啟動此時綠燈亮，

電腦上輸入試樣厚度，選擇升壓速率50KV 0.2～2kv/s，100KV 0.5～10kv/s，任意選，

點擊參數(shù)設(shè)置，選擇實驗方法，保存參數(shù)設(shè)置，點擊實驗準(zhǔn)備一確定一開始實驗，此時實驗開始，直到試樣擊穿,步進電機歸零，啟點指示燈亮，實驗結(jié)束，此時電腦顯示的是試樣擊穿跌落值，數(shù)據(jù)表格里顯示是實際值，點擊序號2，可做下個試樣，一種試樣可做10個，做完實驗點擊左上角保存，

點擊曲線分析，看實驗結(jié)果，點擊Word轉(zhuǎn)換成Word報告，點擊Excel轉(zhuǎn)換成Excel各點數(shù)據(jù)。

做直流實驗；

把高壓變壓器短路銷拔出來，打開軟件，雙擊交流實驗此時直流實驗變實，點擊直流實驗此時是做直流實驗，其它設(shè)置與交流是一樣的，做完實驗自動放電。

ASTM D149-2009介電擊穿電壓試驗方法

耐電壓擊穿試驗儀

13. 計算

13.1對于每次測試而言，擊穿時的絕緣強度應(yīng)以kV/mm或V/mil為單位來計算，對于逐步測試而言，梯度應(yīng)以未發(fā)生擊穿的高電壓步驟來計算。

13.2計算平均絕緣強度及標(biāo)準(zhǔn)偏差，或其他變量的測量值

耐電壓擊穿試驗儀14. 報告

14.1報告應(yīng)包含以下信息：

14.1.1測試樣的鑒定。

14.1.2對每一個測試樣；

14.1.2.1所測量的厚度，

14.1.2.2能承受的大電壓（對逐步測試而言），

14.1.2.3擊穿電壓，

14.1.2.4絕緣強度（對逐步測試而言），

14.1.2.5擊穿強度，及

14.1.2.6擊穿的部位（電極的中心，邊緣或外部）。

14.1.3對于每個樣品：

14.1.3.1平均電介質(zhì)承受強度（僅對逐步測試測試樣），

14.1.3.2平均電介質(zhì)擊穿強度，

14.1.3.3變量的說明，好是標(biāo)準(zhǔn)偏差和變化系數(shù)。

14.1.3.4測試樣的說明，

14.1.3.5調(diào)節(jié)和測試樣的準(zhǔn)備，

14.1.3.6環(huán)境的溫度和相對濕度，

14.1.3.7環(huán)境介質(zhì)，

14.1.3.8測試溫度，

14.1.3.9電極的說明，

14.1.3.10電壓應(yīng)用的方法，

14.1.3.11如果，電流感應(yīng)元件的失效標(biāo)準(zhǔn)，及

14.1.3.12測試的日期。

ASTM D149-2009介電擊穿電壓試驗方法

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15. 精度和偏差

15.1表2總結(jié)了四個實驗室和八種材料實驗室間研究的結(jié)果。該研究采用同一電極體系和同一測試介質(zhì)。9

15.2單一操作員精度——根據(jù)測試材料，試樣厚度，電壓供給方式以及控制或瞬間電壓脈沖的極限，變化常數(shù)（標(biāo)準(zhǔn)差除以平均值）在1%到20％之間變化。如果就同一樣品的五個測試樣進行重復(fù)試驗，變化常數(shù)通常不大于9%。

表2 從四個試驗室總結(jié)出的絕緣強度數(shù)據(jù)A

A測試樣在油中用2型電極進行測試（參見表1）。

15.3多實驗室精度——在不同實驗室中（或者同一實驗室不同設(shè)備上）進行測試的精度是變化的。通過使用同一類型的設(shè)備，嚴格控制測試樣的準(zhǔn)備，電極以及測試流程，單個操作員的精度是近似的。但如果對來自不同實驗室的結(jié)果進行比較，就必須評估不同實驗室的精度。

9支撐數(shù)據(jù)已經(jīng)歸檔在ASTM國際總部中，通過申請研究報告RR:D09-1026可獲得這些數(shù)據(jù)。

15.4如果測試材料，試樣厚度，電極結(jié)構(gòu)，或環(huán)境介質(zhì)不同于表1所列，或是測試設(shè)備中電流感應(yīng)元件的擊穿標(biāo)準(zhǔn)得不到嚴格控制，那么將無法達到15.2和15.3中所規(guī)定的精度，對于需要測試的材料來說，涉及本測試方法的標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)能確定該材料的精度適用范圍。參見5.4~5.8以及6.1.6。

15.5使用特殊的技術(shù)和設(shè)備、使材料厚度的精度達到0.01in甚至更小。電極不能損壞試樣的接觸面。準(zhǔn)確的測定擊穿電壓。

15.6偏差——該測試方法不能測定固有絕緣強度。測試結(jié)果取決于試樣的幾何形狀，電極和其他可變參數(shù)，以及樣品的性質(zhì)，這使得很難描述偏差。

耐電壓擊穿試驗儀

16. 關(guān)鍵詞

16.1擊穿，擊穿電壓，校準(zhǔn)，擊穿標(biāo)淮，介電擊穿電壓，介電失效，介電強度，電極，閃絡(luò)，電源頻率，過程控制測試，驗證測試，質(zhì)量控制測試，快速增加，研究測試，取樣，慢速，逐步，環(huán)境介質(zhì)，耐壓。

附錄

（非強制信息）

Xl. 絕緣強度測試的意義

X1.1 介紹

簡要回顧了擊穿的三種假定機制，分別是：（1）放電或電暈機制，（2）熱機制，以及（3）固有機制，討論了在原理上對實際電介質(zhì)產(chǎn)生影響的因素，并對數(shù)據(jù)的解釋提供幫助。擊穿機制常常與其他機制相結(jié)合，而非單獨發(fā)揮效用。隨后的討論僅針對固體和半固體材料。介電擊穿的假定機制由放電造成的擊穿——在對工業(yè)材料進行的許多測試中，都是由于放電造成了擊穿，這通常造成較高的局部場。對于固體材料來說，放電常常發(fā)生在環(huán)境介質(zhì)中，因此增加測試的區(qū)域?qū)⒃陔姌O邊緣上或外側(cè)產(chǎn)生擊穿。放電也會發(fā)生在內(nèi)部出現(xiàn)或生成的一些泡沫或氣泡里。這會造成局部的侵蝕或化學(xué)分解。這些過程將一直持續(xù)到在電極間形成完全的失效通路為止。熱擊穿——在置于高強度電場時，在許多材料內(nèi)的局部路徑上會積聚大量的熱，這將造成電介質(zhì)和離子導(dǎo)電性能的損失，進而迅速產(chǎn)生熱量，所產(chǎn)生的熱量將大于所能耗散掉的熱量。由于材料的熱不穩(wěn)定性，導(dǎo)致了擊穿的發(fā)生。

固有擊穿——如果放電或熱穩(wěn)定性都不能造成擊穿，那么在電場強度大到足以加速電子穿過材料時，仍將發(fā)生擊穿。標(biāo)準(zhǔn)電場強度被稱為固有絕緣強度。雖然機制本身也許已經(jīng)涉及，但本測試法仍不能測試固有絕緣強度。絕緣材料的性質(zhì)固態(tài)工業(yè)絕緣材料通常是非均勻的，且含有許多不同的電介質(zhì)缺陷。試樣上常常發(fā)生擊穿的區(qū)域，并不是那些電場強度大的區(qū)域，有時甚至是那些遠離電極的區(qū)域。在應(yīng)力下卷中的薄弱環(huán)節(jié)有時將決定測試的結(jié)果。 測試和測試樣狀況的影響因素——通常，隨著電極區(qū)域的增加，擊穿電壓會降低，這種影響對于薄試樣來說更為明顯。電極的幾何形狀也會影響測試的結(jié)果。制作電極的材料也會對測試結(jié)果產(chǎn)生影響，這是因為電極材料的熱導(dǎo)性和功函會對熱機制和發(fā)電機制產(chǎn)生影響。通常來說，由于缺乏相關(guān)的實驗數(shù)據(jù)，所以很難確定電極材料的影響。試樣厚度——固體工業(yè)絕緣材料的絕緣強度主要取決于試樣的厚度。經(jīng)驗顯示，對于固體和半固體材料來說，絕緣強度與以試樣厚度為分母的分數(shù)成反比，更多的證據(jù)顯示，對于相對均勻的固體來說，絕緣強度與厚度的平方根互為倒數(shù)。如果固體試樣能熔化后倒入到固定電極之間并凝固下來，那么電極間距的影響將很難得到明確的定義。因為在這種情況下，可以隨意固定電極間距，所以習(xí)慣在液體或可溶固體中進行絕緣強度測試，此時電極間具有標(biāo)準(zhǔn)的固定空間。因為絕緣強度取決于厚度，所以如果在報告絕緣強度數(shù)據(jù)時缺乏測試所用試樣的起始厚度，那么這樣的數(shù)據(jù)將毫無意義。

溫度——試樣和環(huán)境介質(zhì)的溫度將影響絕緣強度，雖然對于大多數(shù)材料來說，微小的環(huán)境溫度變化對材料造成影響可以忽略不計。通常，絕緣強度隨溫度的升高而降低，但其強度的極限取決于被測材料。眾所周知，由于材料需要室溫以外的條件下發(fā)揮作用，所以有必要在比期望操作溫度更大的范圍里，對絕緣強度與溫度的關(guān)系進行確定。時間——電壓應(yīng)用的速率也會影響測試結(jié)果。通常，擊穿電壓隨電壓應(yīng)用速率的增加而提高。這是預(yù)料之中的，因為熱擊穿機制有賴于時間，而放電機制也有賴于時間，雖然在一些情況下，后一種機制通過產(chǎn)生局部電場高臨界強度造成快速失效波形——通常，應(yīng)用電壓的波形也會影響絕緣強度。在本測試方法的限制說明中，波形的影響是不顯著的。頻率——對于本測試法，在工業(yè)用電頻率范圍內(nèi)，頻率的變化對絕緣強度的影響將不是那么顯著。但是，不能從本測試法所得結(jié)果中推斷出其他非工業(yè)用電頻率（50到60HHz）對絕緣強度的影響。

X1.4.7環(huán)境介質(zhì)——通常測試具有高擊穿電壓的固體絕緣材料，是將試樣浸入到液體介質(zhì)中，例如變壓器油，硅油，或是氟利昂中，以減小擊穿前表面放電的影響。這已經(jīng)由S.Whitehead10所揭示，為了避免固體試樣在達到擊穿電壓前在環(huán)境介質(zhì)中發(fā)生放電現(xiàn)象

1、試驗在試驗箱中進行，試驗箱門打開時電源加不到高壓變壓器輸入端，即高壓側(cè)無電壓。100KV測試設(shè)備高壓電極距離試驗箱壁的近距離大于270mm，50KV測試設(shè)備高壓電極距離試驗箱壁的近距離大于250mm，試驗時即使人接觸箱壁也不會有危險。

2、設(shè)備要安裝單獨的保護地線。接保護地線，主要是減少試樣擊穿時對周圍產(chǎn)生的較強的電磁干擾。也可避免控制計算機失控。

3、該試驗設(shè)備的電路設(shè)有多項保護措施，主要有：過流保護、過壓保護、漏電保護、短路保護、直流試驗放電報警，電磁放電等。

4、直流試驗放電報警功能:在設(shè)備做完直流試驗時,當(dāng)開啟試驗門時設(shè)備會自動報警,直至使用設(shè)備上的放電裝置放電后報警會自動取消.(注：因為直流試驗后不放電會危險到人安全,不能直接拿取電極,起到提醒使用人員放電以免造成傷害)。

5、試驗放電裝置，電磁鐵自動放電放置。符合標(biāo)準(zhǔn)

GB1408.1-2016《絕緣材料電氣強度試驗方法?*部分;工頻下試驗、第2部分》

GBT13542.1-2009電氣絕緣用薄膜*部分

GB/T1695-2005《硫化橡膠工頻擊穿電壓強度和耐電壓的測定方法》

GB/T  3333-1999《電纜紙工頻擊穿電壓試驗方法》1 范圍

GB/T 13542的本部分規(guī)定了電氣絕緣用薄膜的定義、一般要求、尺寸、檢驗規(guī)則和標(biāo)志、包裝、運

輸和貯存。

本部分適用于電氣絕緣用薄膜，

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過GB/T 13542的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文

件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達成

協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的版本。凡是不注日期的引用文件,其版本適用于本

部分。

GB/T 13542.2-2009電氣絕緣用薄膜第2部分:試驗方法(IEC60674-2:1988,MOD)

3術(shù)語和定義

下列術(shù)語和定義適用于本部分。

3.1

卷繞性windability

薄膜的卷繞性用于評定成卷薄膜的變形情況,可由偏移/弧形和凹陷兩方面衡量。

3.1.1

偏移/弧形bias-camber

當(dāng)薄膜平整地打開時,其邊緣不呈直線(偏移或弧形)、

3.1.2

凹陷

sag

當(dāng)一段薄膜由兩個呈水平位置的平行輥支撐并承受一定張力的情況下,其中有部分薄膜會低于總

的水平面。接頭耐熱性或耐溶劑性等特殊要求應(yīng)由供需雙方協(xié)商。

4.4管芯

薄膜應(yīng)卷在圓形管芯上,管芯在卷繞拉伸下應(yīng)不掉屑、坍塌或歪扭,也不應(yīng)損壞薄膜或使其性能降

低。管芯的所有性能和尺寸及其偏差由供需雙方協(xié)商,管芯的優(yōu)選內(nèi)徑為76 mm和152 mm,管芯可以

伸出膜卷的端部,或者與端部平齊。

5尺寸

5.1厚度

按GB/T 13542.2-2009第4章所述的方法測定厚度,除非在產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中另有規(guī)定,且測得的厚度

應(yīng)在標(biāo)稱值±10%范圍內(nèi)。

5.2寬度

寬度應(yīng)在產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定,按GB/T 13542.22009第6章規(guī)定的方法測定的寬度，除非產(chǎn)品標(biāo)

準(zhǔn)另有規(guī)定,其允許偏差應(yīng)符合表1的規(guī)定。

表1薄膜寬度

單位為毫米

寬度

偏差

≤50

±0.5

>50~300

±1.0

>300~450

±2.0

>450

±4.0

5.3長度

對長度的要求由產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。

6檢驗規(guī)則GB/T 13542《電氣絕緣用薄膜)分為以下幾個部分:

一第1部分:定義和一般要求;

一一第2部分:試驗方法;

一第3部分:電容器用雙軸定向聚丙烯薄聵;

一第4部分:聚酯薄膜

.…。

本部分為GB/T13542的第1部分。

本部分修改采用IEC60674-1:1980《電氣用塑料薄膜第1部分:定義和一般要求(英文版)。

本部分與IEC60674-1的主要技術(shù)差異如下:

1)增加了“規(guī)范性引用文件"章;

2)增加了“檢驗規(guī)則"章。

本部分代替GB/T 13542-1992《電氣用塑料薄膜一般要求》,

本部分與GB/T 13542-1992相比主要差異如下:

1)將“引用標(biāo)準(zhǔn)”改為“規(guī)范性引用文件”

2)定義3.1.1中“偏斜”改為“偏移/弧形”。

本部分由中國電器工業(yè)協(xié)會提出。

本部分由全國絕緣材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC51)歸口，

本都分起草單位:桂林電器科學(xué)研究所,東材科技集團股份有限公司。

本部分主要起草人:王先修、趙平。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:

GB/T13542-1992。

6.1薄膜應(yīng)進行出廠檢驗和型式檢驗。

6.2型式檢驗項目為產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中技術(shù)要求規(guī)定的全部項目，每三個月至少進行一次。當(dāng)原材料變更

或工藝條件改變時,也應(yīng)進行型式檢驗。

6.3產(chǎn)品批量、抽樣方法和出廠檢驗項目在產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定，每批薄膜應(yīng)進行出廠檢驗,產(chǎn)品經(jīng)檢驗

合格才能出廠。制造廠應(yīng)保證出廠產(chǎn)品符合產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中全部技術(shù)要求。

6.4當(dāng)試驗結(jié)果中任何一項不符合技術(shù)要求時,應(yīng)在該批薄膜另外二卷中各取一組試樣重復(fù)該項試

驗,如仍有一組不符合要求時,該批薄膜為不合格品。

6.5使用單位可按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的全部或部分項目進行驗收檢驗。預(yù)處理條件按GB/T13542.2-2009

中3.2要求進行。

6.6使用單位有要求時,制造廠應(yīng)提供產(chǎn)品檢驗報告。

7標(biāo)志、包裝、運輸和貯存

7.1薄膜卷要用防潮紙或塑料薄膜包裹,外層套裝塑料袋,并架空支撐放置于包裝箱中,使薄膜在通常

的貯存和運輸條件下得到充分保護而不受損壞和變質(zhì)。

7.2每箱薄膜應(yīng)有明顯而牢固的標(biāo)志:

TVS瞬間防護技術(shù)

●  多級循環(huán)電壓采集技術(shù):

材料擊穿后,瞬間放電速度約為光速的1/5~1/3,國際通用的方法為壓降法進行采集擊穿電壓。即變壓器的初級電壓瞬間下降一定比率來判別材料是否擊穿。顯然記錄擊穿電壓值產(chǎn)生偏差。而采用多級循環(huán)采集技術(shù)對擊穿后的電壓采集將解決此難題。

●  低通濾波電流監(jiān)測技術(shù):

高壓壓放電過程中將產(chǎn)生高頻信號。而無論是國產(chǎn)與進口電流采集傳感器,大都為工頻電流傳感器。而采集過程中無法將高頻信號處理時,從而造成檢測不準(zhǔn)確。無論是采用磁通門或霍爾原理所設(shè)計的傳感器存在擊穿后瞬間輸出電壓或電流信號過大,從而燒壞控制系統(tǒng)的采集部分。華測開發(fā)的低濾波電流采集傳感器將高頻雜波信號進行相應(yīng)處理。同流采集華測自主開發(fā)的保護模塊來保證采集精度與保護采集元件。

●  雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)及隔離屏蔽技術(shù):

采用雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)應(yīng)用于電擊穿儀器,生產(chǎn)的電壓擊穿儀器不僅具備過壓、過流保護系統(tǒng),它*的雙系統(tǒng)互鎖機制,當(dāng)任何元器件出現(xiàn)問題或單系統(tǒng)出現(xiàn)故障時,將瞬間切斷高壓。

品名稱：電壓擊穿試驗儀

產(chǎn)品型號：BDJC-10KV、BDJC-50KV、BJC-100KV

產(chǎn)品品牌：北京北廣精儀

控制方式：計算機控制

符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T1408、ASTM D149、IEC60243-1等

適用材料：橡膠、塑料、薄膜、陶瓷、玻璃、漆膜、樹脂、電線電纜、絕緣油等絕緣材料

測試項目：擊穿電壓測試、介電強度測試、電氣強度測試、耐電壓擊穿強度測試等

試驗電壓：10KV、20KV、50KV、100KV、150KV等

電壓精度：≤1%

適用材料：絕緣材料

升壓速率：10V/S-5KV/S

試驗方式：交流/直流、耐壓、擊穿、梯度升壓

控制系統(tǒng)：PLC控制升壓

核心部件：采用進口配件

試驗介質(zhì)：絕緣油、空氣

顯示方式：曲線顯示、數(shù)據(jù)打印

其它特點：無線藍牙控制

設(shè)備組成：主機、計算機、電極

電極規(guī)格：25mm、75mm、6mm

電器容量：3KVA、5KVA、10KVA

耐壓時間：0-8H

安全保護：九級安全保護

質(zhì)保日期：三年、終身維護。

培訓(xùn)方式：工程師上門培訓(xùn)安裝

出據(jù)證書：514所、304所、科學(xué)研究院等單位均可

主機尺寸：1000*600*1400mm、1700*600*1400mm

主機重量：100KG、200KG

北廣產(chǎn)品保修售后服務(wù)承諾：

一、安裝調(diào)試：協(xié)助試驗機的安裝，負責(zé)試驗機的運輸、調(diào)試。

二、驗收標(biāo)準(zhǔn)：試驗機按訂貨技術(shù)附件進行驗收。終驗收在買方進行，對用戶提供的試樣進行試驗，并提供測試報告。

三、培訓(xùn)：安裝調(diào)試同時，在儀器操作現(xiàn)場一次性免費培訓(xùn)操作人員2-3名，該操作人員應(yīng)是由需方選派的長期穩(wěn)定的員工，培訓(xùn)后能夠?qū)υO(shè)備基本原理、軟件使用、操作、維護事項理解和應(yīng)用，使人員能夠獨立操作設(shè)備對樣品進行檢測、分析，同時能進行基本的維護。

四、軟件升級：終生免費提供新版本控制軟件。

五、保修：1、設(shè)備保修兩年，終身售后服務(wù)，一年內(nèi)非人為損壞的零部件免費更換，保修期內(nèi)接到用戶邀請后，遲響應(yīng)時間為2小時內(nèi)，在與用戶確認故障后，我公司會在48小時內(nèi)派工程師到達現(xiàn)場進行免費服務(wù)，盡快查清故障所在位置和故障原因，并向用戶及時報告故障的原因和排除辦法。

2、保修期內(nèi)人為損壞的零部件按采購（加工）價格收費更換。

3、保修期外繼續(xù)為用戶提供優(yōu)質(zhì)技術(shù)服務(wù)，在接到用戶維修邀請后3天內(nèi)派工程師到達用戶現(xiàn)場進行維修。并享有優(yōu)惠購買零配件的待遇。

4、傳感器過載及整機電路超壓損壞不在保修范圍內(nèi)。

六、售后管理：

我公司實現(xiàn)計算機化管理，實行客戶定期電話回訪制度，定期復(fù)查設(shè)備的工作情況，定期電話指導(dǎo)用戶對設(shè)備進行保養(yǎng)和檢測，以便設(shè)備正常運轉(zhuǎn)，跟蹤客戶的設(shè)備使用情況，以便及時對設(shè)備進行維護

電壓擊穿試驗儀安全保護措施：公司簡介

 北京北廣精儀公司是一家專業(yè)從事檢測儀器，自動化設(shè)備生產(chǎn)的高新科技企業(yè)公司，擁有現(xiàn)代化設(shè)計開發(fā)技術(shù)和先進的生產(chǎn)設(shè)備。積極專注于多種高性能檢測設(shè)備及非標(biāo)自動化設(shè)備的生產(chǎn)和研制，主要研發(fā)生產(chǎn)的產(chǎn)品：絕緣材料檢測儀器（電壓擊穿試驗儀、電阻率測試儀、介電常數(shù)測試儀、漏電起痕測試儀、耐電弧測試儀等）海綿泡沫檢測儀器（落球回彈測試儀、壓縮變形測試儀、壓陷硬度測試儀、疲勞沖擊試驗儀），力學(xué)設(shè)備（萬能試驗機）等質(zhì)量已領(lǐng)先國內(nèi)先進水平。

GB/T1408絕緣材料電氣強度試驗方法第1部分：工頻下試驗

1、范圍

GB/T1408的本部分規(guī)定了測量固體絕緣材料工頻（即48Hz～62Hz）短時電氣強度的試驗方法．本部分規(guī)定了用液體和氣體作為固體絕緣材料試驗時的浸漬劑或周圍媒質(zhì)，但不適用于液體和氣體的試驗．

注：本部分包括測定團體絕緣材料表面擊穿電壓的方法．

2、規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過GB/T 1408的本部分的引用而成為本部分的條款。 凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單<不包括勘誤的內(nèi)容>或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達成 協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的ZUI新版本。 凡是不注日期的引用文件，其ZUI新版本適用于本部分．

GB/T 1981. 2-2003 電氣絕緣用漆第2部分：試驗方法（IEC 60464“2: 2001, IDT)

GB/T 7113. 2-2005 絕緣軟管 試驗方法（IEC 60684-2:1997 ,MOD)