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便攜式光學(xué)膜厚儀
- 品牌:希臘ThetaMetrisis
- 型號: FR-Portable
- 產(chǎn)地:歐洲 希臘
- 供應(yīng)商報價:面議
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武漢邁可諾科技有限公司
更新時間:2024-11-06 11:13:13
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銷售范圍售全國
入駐年限第8年
營業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品薄膜測厚儀(6件)
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詳細(xì)介紹
FR-portable 便攜式膜厚儀主要由以下系統(tǒng)組成:
Α白熾-LED混合集成式光源系統(tǒng),通過內(nèi)嵌式微處理器控制,使用壽命超過20000小時。
小型光譜儀,光譜范圍370nm –1050nm,分辨精度可達(dá)3648像素, 16位級 A/D 分辨精度;配有USB通訊接口;
Β) FR-Monitor膜厚測試軟件系統(tǒng),
可精確計算如下參數(shù):
1)單一或堆積膜層的厚度;
2)靜態(tài)或動態(tài)模式下,單一膜層的折射率;本軟件包含了類型豐富的材料折射率數(shù)據(jù)庫,可以有效地協(xié)助用戶進(jìn)行線下或者在線測試分析。本系統(tǒng)可支持吸收率,透射率和反射率的測量,還提供任何堆積膜層的理論性反射光譜,一次使用授權(quán),即可安裝在任何其他電腦上作膜厚測試后的結(jié)果分析使用。
C) 參考樣片:
a) 經(jīng)校準(zhǔn)過的反射標(biāo)準(zhǔn)硅片;
b) 經(jīng)校準(zhǔn)過的帶有SiO2/Si 特征區(qū)域的樣片;
c) 經(jīng)校準(zhǔn)過的帶有Si3N4/SiO2/Si特征區(qū)域的樣片;
D) 反射探針臺和樣片夾具
可處理最大的樣品尺寸達(dá)200mm, 包含不規(guī)則的尺寸等;
手動調(diào)節(jié)可測量高度可達(dá)50mm;
可針對更大尺寸訂制樣片夾具;
Ε) 反射率測量的光學(xué)探針
內(nèi)嵌系統(tǒng)6組透射光探針200μm, 1組反射光探針200μm;
F) 附件
FR-portable透射率測量套件;
Thickness measurement range
12nm – 90μm
Refractive Index calculation
P
Thickness measurement Accuracy
0.2% or 1nm
Thickness measurement Precision
0.04nm or 1‰ (0.01nm)
Thickness measurement stability
0.02nm
Sample size
1mm to 200mm and up
Spectral Range
400nm – 1100nm
Working distance
3mm-20mm
Spot size
0.35mm (diameter of the reflectance area)
Light Source Lifetime
20000h
Wavelength resolution
0.8nm
Number of Layers Measured
Max. 5 layers
Measurement time (max acquisition speed)
10ms/point
A/D converter
16 bit
Power
USB – supplied
Dimensions
300mm x 110mm x 40mm