法國(guó)CSI原子力顯微鏡性價(jià)比的解決方案。法國(guó)CSI原子力顯微鏡廣泛應(yīng)用于納米科學(xué)領(lǐng)域、材料、表面科學(xué)、聚合物、薄膜、半導(dǎo)體、生物材料、光電、導(dǎo)電表面表征…

低噪音的激光器和電子系統(tǒng)、無干擾、純偏轉(zhuǎn)信號(hào)，更好的分辨率（圖像和力曲線）。

XY驅(qū)動(dòng)分辨率：24位控制，0.06Am；

Z驅(qū)動(dòng)分辨率：24位控制，0.006Am；

微弱的相干激光器：658nm波長(zhǎng)，功率小于1mw。

升縮臺(tái)的結(jié)構(gòu)（ZL技術(shù)）

有ZL的伸縮放大臺(tái)階且低噪音的，三軸獨(dú)立，原子臺(tái)階及分子分辨率，直到100μm掃描，

掃描分辨率X-Y：0.06nm，Z：0.006nm，不像壓電陶瓷管那樣易碎而且伸縮有弓效果。

智能化AFM

a. 低噪聲低功耗相干激光器

b. 低噪音控制器（低電壓驅(qū)動(dòng)壓電掃描器）

c. 24位DAC控制（精密控制

d. 最大100μm掃描（Z方向9μM）

e. 高分辨率的大范圍掃描器

低噪音激光器和控制器+24位控制+伸縮臺(tái)階（ZL技術(shù)）=完整的低噪音回路=一體式掃描器。大范圍掃描，高分辨率，且無需更換掃描器。

自動(dòng)設(shè)置和自動(dòng)開關(guān)

1.自動(dòng)調(diào)諧集成鎖相（AC和單通KFM模式）

2. 自動(dòng)設(shè)置電子系統(tǒng)（無需使用者連接電纜或模塊）

3. 頂部和側(cè)面視圖（探針-樣品趨近簡(jiǎn)單- >不會(huì)撞針）

4. 直觀的軟件和預(yù)先配置的AFM模式

配置齊全AFM

易于使用（頂部和側(cè)面的視圖，直觀的軟件，觸摸屏控制）

高達(dá)100μm范圍掃描（Z方向9μM）

高分辨率

集成鎖相（高靈敏度）

24位控制

多模式

接觸/摩擦&振蕩模式/相位

Conductive AFM（導(dǎo)電AFM）

PFM (壓電響應(yīng))

MFM/EFM（磁力/靜電力）

力調(diào)制

適用于不同環(huán)境的真實(shí)設(shè)計(jì)

EZ溫度:溫度控制，可達(dá)200°

對(duì)于壓電器件可以進(jìn)行更穩(wěn)定的加熱分離（不漂移）

與大氣控制、液體模式和所有電模式(KFM,CAFM, ResiScope…)相兼容

大氣控制（氣體和濕度）

光電探測(cè)器和激光器在箱體外部（濕度控制不會(huì)造成電子件損害）

光電探測(cè)器和激光器可以正常對(duì)齊（不在一個(gè)盒子里解決- >沒有盒子）

容易和快速設(shè)置

與電氣測(cè)量模式是**的兼容(KFM, ResiScope…)

EZ液體：液體測(cè)量

壓電保護(hù)

激光容易對(duì)準(zhǔn)（可以利用頂部視頻在空氣中對(duì)準(zhǔn)激光）

非常穩(wěn)定的“振蕩模式”的決方案

易于使用且更成功的原子力顯微鏡測(cè)量！

熱測(cè)量

局部加熱（探針）

或熱測(cè)量

**的電氣模塊

HD-KFM :

在市場(chǎng)上有**的分辨率和靈敏度（更好的算法，根據(jù)不同樣品有兩種模式，更好的鎖相靈敏度…）

易用使用（自動(dòng)調(diào)用智能算法，無需經(jīng)驗(yàn)）

ResiScope :

10個(gè)數(shù)量級(jí)-從100Ω~1TΩ之間（競(jìng)爭(zhēng)者最多只覆蓋了7個(gè)數(shù)量級(jí)）

較低的電流流經(jīng)探針/樣品（不會(huì)局部氧化，不會(huì)因?yàn)楦唠娏鲹p害探針/樣品）

同時(shí)兼容AC模式成像和EFM/MFM模式或者HD-KFM模式，且不會(huì)任何變動(dòng)或丟失樣品的位置！

Soft-ResiScope :

跟ResiScope一樣，仍然有10個(gè)數(shù)量級(jí)，允許軟性樣品成像成像和電阻/電流測(cè)量。

CSI原子力顯微鏡應(yīng)用領(lǐng)域

物理實(shí)驗(yàn)室：材料，高分子聚合物，電氣特性，磁場(chǎng)，壓電領(lǐng)域…

化學(xué)實(shí)驗(yàn)室：分子電子或組織。太陽能電池，電池，聚合物，電化學(xué)

半導(dǎo)體：研究和研發(fā)

多用途用戶如：化學(xué)實(shí)驗(yàn)室+生物實(shí)驗(yàn)室

熱忱歡迎您的垂詢，上海曼戈斐光學(xué)提供樣品免費(fèi)測(cè)試，歡迎蒞臨！