反射是光譜測(cè)量的基本手段，實(shí)現(xiàn)反射光譜測(cè)量通常需要光譜儀、光源、光纖、測(cè)量支架、標(biāo)準(zhǔn)參比樣品和測(cè)量軟件等。對(duì)于不同種類的樣品，為了獲取較好的光譜數(shù)據(jù)，反射這種基本模式又會(huì)演化為更多的形式。

復(fù)享光學(xué)為用戶提供了以光譜儀為核心的反射光譜測(cè)量?jī)x器，可以搭建個(gè)性化的光譜測(cè)量系統(tǒng)。復(fù)享光學(xué) R3 反射光譜測(cè)量系統(tǒng)可以配置 1 個(gè)或者 2 個(gè)支架，用于固體和粉末樣品的反射率測(cè)量。R3 光譜測(cè)量支架也可以用來固定光纖探頭和光源，具備高靈活性和強(qiáng)實(shí)用性?！?br>