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探針接觸式三維輪廓儀
- 品牌:美國AEP Technology
- 型號: NanoMap500LS
- 產(chǎn)地:美洲 美國
- 供應商報價:面議
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aep Technology中國辦事處
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銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業(yè)執(zhí)照
- 同類產(chǎn)品
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詳細介紹
儀器簡介:
該系統(tǒng)利用掃描探針顯微鏡光杠桿位移檢測技術(shù)和超平整參照面-大型樣品臺掃描技術(shù),并與壓電陶瓷(PZT)掃描wan美結(jié)合,可以再不喪失精度的情況下,即得到超大樣品整體三維輪廓圖,又呈現(xiàn)局部三維形貌像。其中樣品臺掃描參考平面使用超高平坦度光學拋光平臺,有效解決了以往樣品臺掃面,由于絲杠公差引起的測試結(jié)果有亞微米量級的誤差。
三維表面形貌/輪廓儀主要應用在金屬材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各種材料表面的薄膜厚度,臺階高度,二維粗糙度(Ra,Rq,Rmax...),三維粗糙度(Sa,Sq,Smax),劃痕截面面積,劃痕體積,磨損面積,磨損體積,磨損深度,薄膜應力(曲定量率半徑法)等定量測量。擺脫了以往只能得到二維信息,或三維信息過于粗糙的現(xiàn)狀。將輪廓儀帶入了另一個高精度測量的新時代。
主要特點:1、常規(guī)的接觸式輪廓儀和掃描探針顯微鏡技術(shù)的wan美結(jié)合
2、雙模式操作(針尖掃描和樣品臺掃描),即使在長程測量時也可以得到zuiyou化的小區(qū)域三維測圖
3、針尖掃描采用精確的壓電陶瓷驅(qū)動掃描模式,三維掃描范圍從10μm X 10μm 到500μm X 500μm。樣品臺掃描使用高級別光學參考平臺能使長程掃描范圍到50mm。
4、在掃描過程中結(jié)合彩色光學照相機可對樣品直接觀察
5、針尖掃描采用雙光學傳感器,同時擁有寬闊測量動態(tài)范圍(最大至500μm)及亞納米級垂直分辨率?。ㄗ钚。?1nm )
6、軟件設置恒定微力接觸
7、簡單的2步關(guān)鍵操作,友好的軟件操作界面技術(shù)資料