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激光干涉薄厚測量儀

銷售范圍售全國

入駐年限第10年

營業(yè)執(zhí)照已審核

同類產(chǎn)品

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詳細(xì)介紹

所屬類別： ? 光學(xué)/激光測量設(shè)備 ? 偏振態(tài)測量儀
所屬品牌：韓國Nanobase公司

產(chǎn)品簡介

Xper-IP激光干涉膜厚測量儀

Xper-IP是基于Nanobase公司特有的光譜干涉技術(shù)的一款膜厚測量儀，是一種非接觸式、無損的、精確且快速的光學(xué)薄膜厚度測量設(shè)備。Xper-IP可用于測量各種材料（如各種薄膜，鍍膜，顯示面板等）的厚度。

薄膜測厚儀，激光干涉儀，膜厚測量儀，激光干涉薄膜測量系統(tǒng)

韓國Nanobase公司是一家專注于激光和光譜測量領(lǐng)域的高科技公司，旗下有多種產(chǎn)品，包括拉曼光譜成像系統(tǒng)，OCT光學(xué)相干斷層掃描系統(tǒng)，可調(diào)諧激光器和激光干涉薄厚測量儀。

Xper-IP正是基于Nanobase特有的光譜干涉技術(shù)的一款膜厚測量儀，是一種非接觸式、無損的、精確且快速的光學(xué)薄膜厚度測量設(shè)備。Xper-IP可用于測量各種材料（如各種薄膜，鍍膜，顯示面板等）的厚度，產(chǎn)品具有以下特點：

精度 ±0.2 %

重復(fù)準(zhǔn)度 ±0.003 %

超寬測量范圍 10 mm to 1 mm
人性化軟件，易于使用

性價比高

同時測量多層膜厚

結(jié)構(gòu)堅固，適用于實驗室和工業(yè)環(huán)境

參數(shù)

型號	Xper-ITP（激光干涉測厚）	Xper-ISP（激光干涉測表面形貌）
測量范圍	100-1000微米，200-2000微米，(或者定制波長范圍，與光譜儀分辨率成反比)
準(zhǔn)確度	±0.2 %
重復(fù)性	單點：0.01% full range（<100nm）平均：0.003% full range（<30nm）
速度	激光：標(biāo)準(zhǔn)30pps，（最大100，000pps）
光源	激光：SLD(840nm)