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熱電性能分析系統(tǒng) ZEM-5
- 品牌：愛發(fā)科
- 型號： ZEM-5
- 產地：亞洲 日本
- 供應商報價：面議
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北京柯銳歐科技有限公司
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銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業(yè)執(zhí)照
- 同類產品塞貝克系數/電阻測量系統(tǒng)(6件)
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詳細介紹
熱電性能分析系統(tǒng) ZEM-5
說明：此產品售前技術交流服務和售后技術服務由北京柯銳歐科技負責，確保國內用戶享受到最專業(yè)的技術支持！
技術特點：
適用于研究開發(fā)各種熱電材料和薄膜材料，提高測量精度
溫度檢測采用C型熱電偶，最適合測量Si系列熱電材料(SiGe, MgSi等) *HT型
真正可測基板上的納米級薄膜（TF型）
最大可測10MΩ高電阻材料
標準搭載歐姆接觸自我診斷程序并輸出V/I圖表
基于日本工業(yè)標準JIS (熱電能JIS 電阻率JIS R 1650-2)
ZEM-5HT
ZEM-5HR
ZEM-5LT
ZEM-5TF
特 點
高溫型
高電阻型
最大電阻：10MΩ
低中溫型
薄膜型
可測在基板上形成的熱電薄膜
溫度范圍
RT-1200℃
RT-800℃
-150℃-200℃
RT-500℃
樣品尺寸
直徑或正方形：2 to 4 mm2 ；
長度3 ～ 15mm
成膜基板：寬2-4mm，厚0.4-12mm，長20mm
薄膜厚度：≥nm量級
薄膜樣品與基板要求絕緣
控溫精度
±0.5K
測量精度
塞貝克系數：＜±７％； 電阻系數：＜±７％
測量原理
塞貝克系數：靜態(tài)直流電； 電阻系數：四端法
測量范圍
塞貝克系數：0.5μV/K_25V/K； 電阻系數：0.2Ohm-2.5KOhm/10MΩ
分辨率
塞貝克系數：10nV/K； 電阻系數：10nOhm
氣 氛
減壓Ｈｅ
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BKTEM-DX型熱電性能測試平臺
滬公網安備 31011502008050號