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PHI Quantes 硬X射線光電子能譜儀 （Al/Cr 雙掃描聚焦型）
- 品牌：日本Ulvac-Phi
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
- 供應(yīng)商報(bào)價(jià)：面議
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愛發(fā)科費(fèi)恩斯（南京）儀器有限公司
更新時(shí)間：2025-02-12 11:18:10 -
銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品能譜儀(3件)
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詳細(xì)介紹
全自動(dòng)化的XPS系統(tǒng)采用一束掃描、聚焦、單色化的Al X射線源以及一束掃描、聚焦、單色化Cr X射線源用于高空間分辨率的化學(xué)態(tài)分析和HAXPES* ( 硬X射線光電子能譜分析）。Al單色化X射線
能量是1486.7 eV，Cr單色化X射線能量是5414.9 eV。單色化Cr X射線源分析深度是Al單色化X射線源的3倍。技術(shù)文章
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