產(chǎn)品簡介

      正電子湮沒壽命譜儀測量系統(tǒng)用于金屬、合金、半導體材料等的測量。該裝置包括兩個采集模塊和兩個電源模塊。在壽命譜模式中，時間是用采樣率3GS/s采集卡來采集的，它是采集來自兩BaF2閃爍體的高速脈沖信號。在符合多普勒展寬測量（CDB）的模式中，二維直方圖是通過符合兩個高純鍺半導體探測器的波峰值得到的。此外，該設備還可以用來測AMOC，這個壽命動量關聯(lián)譜。

性能特點

1、組成部分

（1） 壽命譜模塊
它是用于時間壽命譜測量，每個通道采用高速3 GHz ADC。
輸入信號是BaF2 閃爍體探測器。
DSP內置了時間差分（CFD、TDC）功能。
（2）DSP多通道分析模塊
它是一個用于伽馬射譜分析模塊的多路數(shù)字信號處理（DSP）模塊。采集來自Ge半導體探測器的前置放大器的輸出信號。
采樣率100 MSPS，ADC大增益為8192。
（3）前置放大器電源模塊
前置放大器電源用于給Ge半導體探測器供電。
通過D-sub 9針連接器供應±24 V（50 mA）和±12 V（50 mA）電源。
連接器的引腳排列符合NIM標準。
（4）高壓電源模塊
它是給兩個BaF 2閃爍探測器和兩個Ge半導體探測器的提供高壓的高壓電源。
CH1和CH2用于給Ge半導體探測器提供高壓，大電壓+5000V（或-5000V）。
CH3和CH4用于給BaF2閃爍探測器提供高壓，大電壓-4000V。
兩者都使用SHV連接器。
（5）VME機箱

7槽VME機箱，100V/200V供電，額定功率300W

2、測量模式（包含5種測量模式）

（1）壽命譜模式

壽命譜模式(Lifetime )是通過同時采集兩個BaF 2閃爍體探測器的波形，取兩個波形上升時間之差，來得到正電子壽命譜的測量。

Upper：Black Start 1.274MeV@22Na,  Red Stop 511keV@22Na Lower：Blue Lifetime spectra,  Sample：polycarbonate

（2）波形模式

波形模式是采集來自兩個BaF 2閃爍探體測器的波形。

（3）能量模式

能量模式是用于測量來自兩個Ge半導體探測器的能譜。

（4）CDB（符合多普勒擴展譜）模式
CDB模式是對兩個Ge半導體探測器的符合計數(shù)，取每個峰峰值，得到正電子湮沒符合計數(shù)的多普勒展寬。

（5）AMOC(正電子壽命-動量關聯(lián)譜）模式
AMOC模式是兩個BaF 2閃爍體探測器和一個Ge半導體探測器的符合計數(shù)來測量正電子壽命 - 動量關聯(lián)譜的模式。

技術參數(shù)

主要參數(shù)

●功能： Lifetime、CDB和AMOC

●ADC： 時間：2CH 3GSPS 8bit

            CDB ：2CH 100MSPS 14bit

●時間分辨： FWHM（半高寬） 192ps （511keV@22Na, BaF2 閃爍體） FWHM（半高寬） 160 – 190 ps (Silica)

●能量分辨： 1.23keV（512keV@106Ru） 1.69keV(1.33MeV@60Co)

●PMT高壓 ： 2CH, -4000V 對于Ge(鍺)半導體： 2CH, +5000V ※包括前放

●接口： Ethernet （TCP/IP）

●附件包括應用指導手冊