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JSM-IT800 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
- 品牌:日本電子
- 型號: JSM-IT800
- 產(chǎn)地:亞洲 日本
- 供應(yīng)商報價:面議
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捷歐路(北京)科貿(mào)有限公司
更新時間:2021-08-11 16:01:30
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銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品掃描電子顯微鏡(15件)
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產(chǎn)品特點
- JSM-IT800的場發(fā)射掃描電鏡通用性強,可廣泛應(yīng)用于納米材料、金屬材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)化工、醫(yī)學(xué)及生物學(xué)領(lǐng)域,可GX觀察包括非導(dǎo)體樣品及強磁性樣品等。
JSM-IT800SHL分辨率可達0.5nm,成像能力強大。浸沒式電子槍可提供500nA大電流,EDS和EBSD分析速度極快。
另外JSM-IT800系列還搭載了眾多全新研發(fā)的電子光學(xué)技術(shù),自動化程度極高。 詳細介紹
主要特點
1. 浸沒式schott-plus場發(fā)射電子槍
電子槍與低像差聚光透鏡結(jié)合實現(xiàn)了高亮度。即使低加速電壓下也能獲得充足的入射電流(100nA@5kv), 不需要切換物鏡就能進行高分辨觀察、高速元素面分析、EBSD分析、軟X射線分析。
2. Neo Engine(New Electron Optical Engine)
配備本公司電子光學(xué)技術(shù)精華的新一代電子光學(xué)控制系統(tǒng)。即使條件變更時也可以進行穩(wěn)定的觀察。另外,自動功能等的易用性也大幅度提高了。AFS ACB
樣品:碳上的錫納米顆粒
加速電壓:15kV,WD:2mm,觀察模式:BD,檢測器:UED, 倍率:x200,0003. SEM Center / EDS一體化
操作導(dǎo)航“SEM Center”與本公司生產(chǎn)的EDS進行了全面集成,更易于操作。此外,還配備了幫助初學(xué)者進行電鏡操作的小型導(dǎo)航系統(tǒng)(可選),以及便于實時圖像觀察的Live - AI (Live Image Visual Enhancer-AI)過濾器(可選)。
4. HL(Hybrid Lens)和 SHL(Super Hybrid Lens)
以電磁場重疊型物鏡為基礎(chǔ)設(shè)定了2種物鏡,可以按客戶的需求選擇。這樣磁性材料、絕緣材料等各種樣品都能觀察和分析。5. 高位檢測器UHD (Upper Hybrid Detector)
SHL物鏡里標配高位檢測器,大大地提高了樣品產(chǎn)生的電子檢測率,能夠采集到高S/N的圖像。6. 新型背散射電子檢測器
閃爍體背散射電子檢測器(SBED、選配件)響應(yīng)性能優(yōu)越,適用于低加速電壓下材料襯度像的采集。多用途背散射電子檢測器(VBED、選配件)適用于3D、凹凸等特色圖像的采集。技術(shù)文章