DIMENSION系列AFM提供了優(yōu)質(zhì)的AFM性能
 
Dimension Edge原子力顯微鏡保留了Dimension ICON系統(tǒng)的諸多技術(shù)創(chuàng)新，中等價(jià)位的價(jià)格 與儀器功能達(dá)到了的平衡。其中核心的技術(shù)是 Bruker創(chuàng)新性的閉環(huán)掃描，結(jié)合溫度補(bǔ)償位置傳感器和模 塊化的低噪音控制電路，這套針尖掃描部件把閉環(huán)噪音減 小到了單個(gè)化學(xué)鍵長(zhǎng)度。為了大限度的發(fā)揮這一優(yōu)點(diǎn)，掃描器被固定在一個(gè)堅(jiān)固的，具有漂移補(bǔ)償?shù)臉蛄航Y(jié)構(gòu)上。此橋梁結(jié)構(gòu)基于FPGA的溫度控制并快速穩(wěn)定到極低的漂移速率。因此，Dimension Edge原子力顯微鏡結(jié)合了高生產(chǎn)效率，高精度，大樣品臺(tái)的樣品通用性，閉環(huán)操作 和以前僅在小樣品臺(tái)、開(kāi)環(huán)儀器上才能獲得的高分辨率圖像等特點(diǎn)，能夠獲得任何樣品的真實(shí)圖像，實(shí)現(xiàn)突破性的實(shí)驗(yàn)成果。

完備的AFM功能
 
Dimension Edge既包含了各種常規(guī)的掃描模式和BrukerZG技術(shù)，還提供了針對(duì)各種具體應(yīng)用領(lǐng)域的解決方案，例如納米級(jí)的電學(xué)測(cè)量，可控環(huán)境下的材料表征等。這些功能都能夠在廣泛應(yīng)用中獲得成像和單點(diǎn)譜線測(cè)量，例如從太陽(yáng)能和半導(dǎo)體器件的表征和多相聚合物材料成像，到從單分子到全細(xì)胞的生命科學(xué)樣品的原位成像和單個(gè)納米顆粒的研究。
 
電學(xué)表征
Dimension Edge不僅僅是把一個(gè)AFM探針連接到低噪音電流放大器上，而是開(kāi)發(fā)了Dark Lift模式，Dark Lift是在導(dǎo)電原子力數(shù)據(jù)把光電效應(yīng)從樣品的本征電導(dǎo)性中清晰分離的方法。它是基于布魯克已申請(qǐng)ZG的，應(yīng)用磁力顯微鏡和靜電力顯微鏡中 的抬起模式（Lift Mode）。系統(tǒng)利用這兩種性能以確保在靜電電勢(shì)成像應(yīng)用的優(yōu)化測(cè)試。迄今為止，結(jié)合了Dark Lift模式的閉環(huán)（常損耗量）的掃描電容顯微鏡（SCM）依然是對(duì)摻雜濃度表征的的解決方案。然而，如果研究者想要以高靈敏度來(lái)探測(cè)小電壓的變化，也可很容易地把抬起模式 與表面電勢(shì)顯微鏡結(jié)合起來(lái)。Dimension Edge系統(tǒng)通過(guò)雙頻的方法，能夠?yàn)槿魏戊o電電勢(shì)成像的應(yīng)用提高理想的解決方案。