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英國DEBEN MICROTEST 2000E系列原位動(dòng)態(tài)拉伸試驗(yàn)臺(tái)
- 品牌:英國DEBEN
- 型號: MICROTEST 2000
- 產(chǎn)地:歐洲 英國
- 供應(yīng)商報(bào)價(jià):面議
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北京歐波同光學(xué)技術(shù)有限公司
更新時(shí)間:2025-01-13 09:37:27
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銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品電鏡附件產(chǎn)品(9件)
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產(chǎn)品特點(diǎn)
- 掃描電鏡中的材料允許我們在微結(jié)構(gòu)層級進(jìn)行動(dòng)態(tài)的機(jī)械特性研究。當(dāng)同時(shí)裝備EBSD設(shè)備,可以通過對晶體的結(jié)構(gòu)的分析,,實(shí)時(shí)研究材料的織構(gòu)等隨拉伸載荷和/或溫度的變化而發(fā)生的變化。
詳細(xì)介紹
掃描電鏡中的材料允許我們在微結(jié)構(gòu)層級進(jìn)行動(dòng)態(tài)的機(jī)械特性研究。當(dāng)同時(shí)裝備EBSD設(shè)備,可以通過對晶體的結(jié)構(gòu)的分析,,實(shí)時(shí)研究材料的織構(gòu)等隨拉伸載荷和/或溫度的變化而發(fā)生的變化。
MICROTEST 2000E系列拉伸臺(tái)設(shè)計(jì)可以對金屬樣品施加高達(dá)2000N的拉力,用戶EBSD分析,或者對一些其他材料進(jìn)行常規(guī)的應(yīng)力-應(yīng)變分析和SEM成像。試樣夾具70度角度傾斜,為EBSD分析提供了的設(shè)置。
MICROTEST 2000E系列拉伸臺(tái)可直接安裝在一些SEM的標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)上,或者在某些情況下可能需要C1000XYX替換樣品臺(tái)。該樣品臺(tái)頁可以在電子顯微鏡之外使用。
MICROTEST 2000E可以在拉伸或者壓縮模式下工作。配備的功能豐富的軟件能夠進(jìn)行恒速、恒載荷或低頻循環(huán)操作,以其他功能,例如按斜坡達(dá)到預(yù)設(shè)載荷。應(yīng)力應(yīng)變曲線可以在顯示器上實(shí)時(shí)圖形繪制,圖形顯示帶有特性游標(biāo),可選多量程和縮放功能。MTVideo選項(xiàng)同步視頻和數(shù)據(jù)采集,從而允許隨后對變形樣品的視頻進(jìn)行詳細(xì)分析。
對于可變溫度研究??梢栽贛ICROTEST 2000EW(水冷版本)平臺(tái)上EBSD的幾何位置上選配加熱夾具,加熱夾具的溫度可高達(dá)500℃。技術(shù)特點(diǎn):
1、載荷:2000N測力傳感器,精度1%量程,解析能力0.1%量程
2、長度和拉伸量:夾具間距:10mm,伸長量:10mm,線性延伸計(jì):3μm解析能力和10μm精度
3、速度范圍:0.033mm/min– 0.4 mm/min
4 、較大樣品尺寸:29×27×5(L,W,Hmm)對EBSD樣品夾具
5、產(chǎn)品規(guī)格:196 ×96×53(L,W,Hmm)重量~3.4kg(2000ES);~3.9kg(2000EW)應(yīng)用領(lǐng)域:
1、 金屬與合金:研究與應(yīng)力-應(yīng)變分析相關(guān)的晶粒的晶體學(xué)旋轉(zhuǎn)。
缺陷的演變和應(yīng)變的積累;
加熱樣品,研究再結(jié)晶
2、其他(非晶)材料:在SEM中動(dòng)態(tài)研究微裂紋擴(kuò)展及在微觀尺度上其他失效和變形機(jī)制;注:也可選擇MICROTEST 5000系列拉伸臺(tái)用于EBSD的材料測試系統(tǒng)
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