LS225+N1500渦流測(cè)厚儀是一款便攜式分體式的渦流測(cè)厚儀，由主機(jī)LS225和非鐵基探頭N1500組成。儀器采用渦流感應(yīng)原理，具有超高的測(cè)量精度和重復(fù)性，配上探針式的測(cè)頭設(shè)計(jì)，特別適用于測(cè)量超薄涂層及氧化膜的各種小尺寸工件、異型材料。LS225+N1500渦流測(cè)厚儀可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、施工驗(yàn)收以及銷售展覽現(xiàn)場對(duì)非磁性金屬基材上的非導(dǎo)電涂層厚度進(jìn)行快速無損的測(cè)量，可應(yīng)用于航空工業(yè)、建材、機(jī)械、化工、輕工和儀表等行業(yè)。

　　LS225+N1500渦流測(cè)厚儀產(chǎn)品參數(shù)如下：

　　測(cè)量原理         渦流感應(yīng)

　　基體材料         非鐵磁性金屬

　　測(cè)量范圍         0.0-1500μm

　　分辨率     0.1μm:（0μm - 99.9μm）

　　1μm:（100μm - 999μm）

　　0.01mm:（1.00mm – 1.50mm）

　　重復(fù)性     ≤±（0.8%讀數(shù)+0.1μm）手壓測(cè)試機(jī)架測(cè)試

　　測(cè)量精度         ±（2%讀數(shù)+0.3μm）五點(diǎn)校準(zhǔn)

　　單位         μm/mil

　　測(cè)量間隔         0.8s

　　最小測(cè)量區(qū)域         ?=7mm

　　最小曲率半徑         凸面1.5mm，凹面10mm

　　最小基體厚度         0.05mm

　　用戶校準(zhǔn)         支持零點(diǎn)校準(zhǔn)，1點(diǎn)到5點(diǎn)校準(zhǔn)

　　探頭尺寸         長110mm×直徑15mm（不包括連線）

　　探頭重量（含電池）     81g

　　LS225+N1500渦流測(cè)厚儀產(chǎn)品特點(diǎn)：

　　1.支持調(diào)零和多點(diǎn)校準(zhǔn)確保數(shù)據(jù)更加，配備專門的調(diào)零板和標(biāo)準(zhǔn)片。

　　2.具備數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)功能，自動(dòng)統(tǒng)計(jì)最近9組數(shù)據(jù)的值，值，平均值和方差值。

　　3.具有超寬量程0-1500μm，測(cè)量單位μm和mil可切換。

　　4.選購專用的手壓測(cè)試機(jī)架能消除人為因素造成的誤差，數(shù)據(jù)重復(fù)性可達(dá)0.1μm。