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μMLA桌面無掩模光刻機

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詳細介紹

μMLA桌面無掩模光刻機

 

桌面型光刻機μMLA   技術(shù)參數(shù)


直寫模式 I*直寫模式 II*
寫入性能(光柵掃描和矢量曝光模式)

最小結(jié)構(gòu)尺寸 [μm]0.61
最小線寬/線隙 [半寬, μm]0.81.5

第二層對準

大于 5 x 5 mm2 [3σ, nm]

500500

第二層對準

大于  50 x 50 mm2 [3σ, nm]

10001000
直寫性能 光柵掃描曝光模

線寬變代 [3σ, nm]200300
最 大直寫速率 [mm2/min]1030

可選“可變分辨率光柵掃描曝光模塊”的寫入速度(UMVAR),

適用于不同最小結(jié)構(gòu)尺寸。

 10 mm2/min

  at 0.6 μm

 30 mm2/min

 at 1 μm


20 mm2/min

 at 1 μm

60 mm2/min

 at 2 μm


25 mm2/min

at 2 μm

 

100 mm2/min

  at 4 μm

矢量曝光模式直寫寫性能

矢量模式下的地址網(wǎng)格 [nm]2020
邊緣粗糙度 [3σ, nm]3050
線寬變化 [3σ, nm]7080
最 大線性直寫速率200 mm/s200 mm/s
系統(tǒng)參數(shù)

最 大襯底尺寸5″ x 5″5″ x 5″
最小襯底尺寸

 

5 mm x 5 mm

 

5 mm x 5 mm

基板厚度0.1 to 12 mm0.1 to 12 mm

光柵掃描模塊矢量曝光模塊
光源LED; 390 nm or 365 nmLaser; 405 nm and/or 375 nm



 

 

系統(tǒng)尺寸(光刻單元)

 

μMLAWidthDepthHeightWeight
主機630 mm (25″)800 mm (31.5″)530mm (21″)100 kg (220 lbs)
可選配防振表1400mm (55″)700 mm (28″)750 mm (30″)350 kg (770 lbs)

 

 

無掩模光刻機于2015年S次推出。從那時起,先進的無掩膜技術(shù)已經(jīng)確立。μMLA提供了新一代的桌面激光光刻工具:  配置設(shè)置精確到您的需要與光柵掃描和矢量掃描模式(或兩者)和可變分辨率的記錄磁頭。

 

在許多應(yīng)用中,傳統(tǒng)的光掩膜已經(jīng)成為過去,因為你的設(shè)計文件是通過二維空間光直接暴露在電阻涂層晶圓上的調(diào)制器(SLM)。μMLA是MLA100的直接繼承者,是“小”MLA150,是我們先進的無掩模對準器的兄弟,它是許多多用戶設(shè)備、納米制造實驗室和國家研究所中值得信賴、不可或缺的主力。

   

在我們?nèi)碌娜腴T級系統(tǒng)μMLA的開發(fā)過程中,我們引入了諸如可變解決方案等新特性,并創(chuàng)建了一個靈活且高度可定制的桌面系統(tǒng)。當然,小樣本處理很簡單。μMLA功能保留了以前的桌面系統(tǒng)優(yōu)點,同時提供更多的選擇和更高的性能比以往任何時候。

應(yīng)用包括研究和發(fā)展的領(lǐng)域,如MEMS,微流體,微光學(xué)和所有其他領(lǐng)域,負擔得起,緊湊,和強大的模式基因rator微結(jié)構(gòu)是必需的。

 

APPLICATIONS 應(yīng)用程序

微光學(xué):二元衍射光學(xué)元件。設(shè)計由1個μm2正方形組成。

μMLA提供了一個標準的灰度模式,這可以制造低創(chuàng)造的微鏡頭。防蝕膠:15 μm厚AZ4562。節(jié)距30 μm,曲率半徑16 μm。

CUSTOMIZE YOUR μMLA 定制您的μMLA

 

兩種曝光模式

μMLA可以讓你選擇光柵掃描曝光模式和矢量模式,或者甚至在同一個系統(tǒng)上運行曝光模式! 光柵掃描曝光模式快速,并提供優(yōu)秀的圖像質(zhì)量和保真度,而寫入時間獨立于結(jié)構(gòu)尺寸或圖案密度。矢量掃描模式可以幫助暴露由曲線組成的設(shè)計,當需要平滑的輪廓。雖然矢量模式產(chǎn)生的圖像質(zhì)量與光柵掃描曝光模式相似,但它不能達到同樣的寫入速度,特別是對于高填充系數(shù)的模式。

 

A Choice of Wavelengths 波長的選擇

因此,你可以在一個系統(tǒng)上使用多達三個不同波長(LED和/或激光二極管)。

 

Variable Resolution 可變分辨率

我們新開發(fā)的可變分辨率函數(shù)允許您為一個部分的編寫模式選擇三種不同的分辨率。只需在軟件菜單中選擇解決方案,并為您的應(yīng)用程序優(yōu)化參數(shù)。

 

The Surface at One Glance

可選的概述相機提供了一種簡單的方法來定位對準標記或其他特征感興趣的基板上。

 

Small Sample Handling 小樣本處理

小樣品處理是直接與μMLA:    光學(xué)自動對焦選項允許準確曝光,直到樣品的邊緣。

 




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