Hysitron TI 990 TriboIndenter 在控制和測試帶寬、測試靈活性、適用性、測量可靠性和系統(tǒng)模塊化方面取得了顯著進步，從而實現(xiàn)了比以前更多、更好的研究。

布魯克下一代 Hysitron TI 990 TriboIndenter? 為納米力學(xué)和納米摩擦學(xué)表征的性能、靈活性和可用性樹立了榜樣。TI 990 是布魯克領(lǐng)先的 TriboIndenter 平臺的全面改進，其測量和分析過程的各個方面都采用了旨在消除納米壓痕儀系統(tǒng)常見限制的更新技術(shù)。因此，該系統(tǒng)具有更多的可用測量模式 ，并在廣泛的實驗室環(huán)境中提供高精度測量。

產(chǎn)品特點

1. 用于原位 SPM 成像的雙壓電掃描頭

2. 高分辨率、彩色光學(xué)顯微鏡

3. 低噪聲 2D 電容式傳感器

4. 計量級花崗巖框架確保測試穩(wěn)定性

5. 集成主動減振系統(tǒng)

6. Performech III 控制器

7. 減振底座的抗噪能力提高了 50 倍

8. 多層環(huán)境隔離罩

9. 俯視樣品臺成像

10. 使用 XPM II 超高速納米壓痕進行性能成像

11. 動態(tài)納米壓痕

12. 帶有可定制面板的模塊化外殼

13. 通用樣品夾具

14. 高精度電動/自動化平臺，可測試面積增加 60%

TI 990 具有增強的測量功能、更高的樣品靈活性、更簡單的系統(tǒng)設(shè)置和更簡化的操作，是適用于各種應(yīng)用的優(yōu)秀表征解決方案。

無論您需要提高聚合物薄膜的精度、提高組合材料科學(xué)的測試帶寬，還是需要對全 300 毫米半導(dǎo)體晶圓進行多參數(shù)測量分析，TI 990 都能滿足您的各種測試需求。