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UHV PAN式低溫掃描探針顯微鏡系統(tǒng)
- 品牌:美國RHK Technology
- 型號: UHV PAN
- 產(chǎn)地:美洲 美國
- 供應(yīng)商報(bào)價(jià):面議
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QUANTUM量子科學(xué)儀器貿(mào)易(北京)有限公司
更新時(shí)間:2025-04-28 10:19:37
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銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品表面成像(40件)
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產(chǎn)品特點(diǎn)
- - PAN STM/AFM掃描頭體積極小(2.96”X1.55”)
- 集成了樣品X-Y-Z方向的大范圍移動(dòng)(5mmX5mmX10mm)
- 工作溫度包括了低溫300mK、RT、VT和HT多種范圍
- 內(nèi)置彈簧和渦流阻尼減震系統(tǒng),原位針尖與樣品更換
- 兼容多種Flow式或Bath式低溫恒溫器與磁體
- 與RHKzuixin全數(shù)字R9控制器一同使用
詳細(xì)介紹
Pan式低溫掃描探針顯微鏡析系統(tǒng)是由美國RHK Technology公司制造的,主要特點(diǎn)包括:
- PAN STM/AFM掃描頭體積極小(2.96”X1.55”)- 集成了樣品X-Y-Z方向的大范圍移動(dòng)(5mmX5mmX10mm)
- 工作溫度包括了低溫300mK、RT、VT和HT多種范圍- 內(nèi)置彈簧和渦流阻尼減震系統(tǒng),原位針尖與樣品更換- 兼容多種Flow式或Bath式低溫恒溫器與磁體
- 與RHKzui新全數(shù)字R9控制器一同使用
適用于拓?fù)浣^緣體、低溫超導(dǎo)、表面結(jié)構(gòu)、電學(xué)測量等表面科學(xué)研究中。主要技術(shù)參數(shù):
- 工作模式:STM與非接觸式AFM
- 溫度范圍:<300mK; RT; VT; HT
- X-Y-Z位移范圍:5mmX5mmX10mm
- 掃描范圍:5umX5um (RT)
- 樣品尺寸:10mmX10mm
- 掃描頭尺寸:40mmX70mm結(jié)構(gòu)緊湊,體積極小:
內(nèi)置減震系統(tǒng)、可水平或垂直放置 Pan式低溫掃描探針顯微鏡結(jié)構(gòu)極其緊湊,核心部分尺寸在~40X70mm左右;內(nèi)置有彈簧和渦流阻尼減震系統(tǒng);根據(jù)用戶的要求,可以提供水平放置配置和垂直放置配置兩種;初次之外,它兼容常用的低溫恒溫器和磁體,并提供相應(yīng)的集成方案。原位樣品與探針更換:
操做簡單、快速;性能可靠 在低溫和超高真空環(huán)境中,樣品和針尖的原位更換一直是使用者非常關(guān)心的問題。為此,RHK公司為Pan式低溫掃描探針顯微鏡開放了一套性能可靠、操作簡單快速的原位樣品與針尖更換裝置,并提供了多個(gè)樣品與針尖的放置室。
Pan式低溫掃描探針顯微鏡中使用的樣品架靈活多樣,可充分滿足各種實(shí)驗(yàn)要求,如原位加熱、樣品剝離、樣品轟擊等等;同時(shí),它還兼容其他的商業(yè)化掃描探針顯微鏡中所配備的樣品架。兼容各種磁體和恒溫器
為充分滿足科學(xué)家的要求,RHK與磁體和恒溫器制造商緊密合作,開發(fā)了低溫掃描探針顯微鏡整機(jī)系統(tǒng)和獨(dú)立掃描頭模塊系統(tǒng),根據(jù)用戶的特殊要求提供了一整套的解決方案。 RHK公司將上zui先進(jìn)的全數(shù)字掃描探針顯微鏡控制器R9集成到Pan式掃描探針顯微鏡中,集中研發(fā)力量,推出了噪音極低的R9掃描控制系統(tǒng)和IVP-R9前置放大器。應(yīng)用案例:
Si(111)表面7X7重構(gòu),4KBi2Se3表面形貌,4K